基于原位液相飞行时间二次离子质谱的电化学固液界面研究

O657.63; 电化学界面是能源转换与存储、生物化学、传感器和腐蚀等领域的核心,研究电化学界面结构与性能的关系一直是电化学和化学测量学的热点与难点.本文重点介绍了基于高真空兼容微流控装置的原位液相飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)技术的原理、特性,及其在电化学固液界面实时、原位探测方面的研究进展.随着微流控装置的进一步创新以及ToF-SIMS仪器的不断发展,原位液相ToF-SIMS将为电催化、电池等领域的复杂电化学固液界面研究提供重要手段....

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Published in质谱学报 Vol. 45; no. 1; pp. 1 - 13
Main Authors 张燕燕, 汪福意
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 中国科学院大学,北京 100049 2024
北京质谱中心,北京100190
中国科学院化学研究所活体分析化学院重点实验室,北京分子科学国家研究中心,北京 100190%中国科学院化学研究所活体分析化学院重点实验室,北京分子科学国家研究中心,北京 100190
Subjects
real-time analysis
电化学固液界面
electrochemical solid-liquid interfaces
in situ analysis
原位液相飞行时间二次离子质谱
实时分析
in situ liquid time-of-flight secondary ion mass spectrometry
原位分析
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ISSN1004-2997
DOI10.7538/zpxb.2023.0100

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Summary:O657.63; 电化学界面是能源转换与存储、生物化学、传感器和腐蚀等领域的核心,研究电化学界面结构与性能的关系一直是电化学和化学测量学的热点与难点.本文重点介绍了基于高真空兼容微流控装置的原位液相飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)技术的原理、特性,及其在电化学固液界面实时、原位探测方面的研究进展.随着微流控装置的进一步创新以及ToF-SIMS仪器的不断发展,原位液相ToF-SIMS将为电催化、电池等领域的复杂电化学固液界面研究提供重要手段.
ISSN:1004-2997
DOI:10.7538/zpxb.2023.0100