Microstructural Features of a-Axis OrientedYBa$\bf _2$Cu$\bf _3$O$_{{\bf 7}-\delta}$/PrBa$\bf _2$Cu$\bf_3$O$_{{\bf 7}-\delta}$/YBa$\bf _2$Cu$ \bf _3$O$_{{\bf 7}-\delta}$Junctions Studied by Transmission Electron Microscopy

• Published in: Microscopy microanalysis microstructures (Les Ulis) Vol. 7; no. 4; pp. 255 - 264
• Main Authors: Alimoussa, Abdelhadi, Casanove, Marie-José, Roucau, Christian, Thalal, Abdelmalek
• Format: Journal Article
• Language: English
• Published: EDP Sciences 01.08.1996
• Subjects: 6170Q; 6475; 6480G; 6865; 7450; 7470J; 7470V; barium compounds; crystal microstructure; DC magnetron sputtering; Fourier transform analysis; Fourier transforms; heteroepitaxial growth; high temperature superconductors; inclusions; Josephson effect; Josephson junctions; microstructure; praseodymium compounds; PrBaO sub 3 precipitates; precipitation; sputtered coatings; transmission electron microscopy; Y sub 2 O sub 3 inclusions; YBa sub 2 Cu sub 3 O sub 7 delta PrBa sub 2 Cu sub 3 O sub 7 delta YBa sub 2 Cu sub 3 O sub 7 delta; YBa sub 2 Cu sub 3 O sub 7 PrBa sub 2 Cu sub 3 O sub 7 YBa sub 2 Cu sub 3 O sub 7; yttrium compounds
• ISSN: 1154-2799
• DOI: 10.1051/mmm:1996120

A-axis oriented YBa2Cu3O$_{7-\delta}$/PrBa2Cu3O$_{7-\delta}$/YBa2Cu3O$_{7-\delta}$ Josephson junctions grown by dc-magnetron sputtering on SrTiO3 (100) substrates have been studied by cross-sectional transmission electron microscopy (TEM). The experiments showed that nearly perfect a-axis heteroepitaxial growth was achieved, c-axis oriented grains being found only in the beginning of the films. High resolution TEM was used to study the microstructure of the different interfaces and layers, special attention being paid to secondary phases. Small Y2O3 inclusions in the YBa2Cu3O$_{7-\delta}$ layers and elongated PrBaO3 precipitates in the PrBa2Cu3O$_{7-\delta}$ layers were identified using high resolution TEM and Fourier transform analysis. Des jonctions Josephson YBa2Cu3O$_{7-\delta}$/PrBa2Cu3O$_{7-\delta}$/ YBa2Cu3O$_{7-\delta}$ de croissance axe a, déposées par pulvérisation cathodi que sur des substrats SrTiO3 (100), ont été étudiées par microscopie électronique en transmission (MET) effectuée sur des coupes transverses. Les expériences ont montré que, en dehors de quelques grains orientés axe c trouvés au tout début des films, l'hétéroépitaxie des différentes couches avec l'axe a pour direction de croissance a bien été obtenue. La microstructure des interfaces et des couches successives a été étudiée en microscopie électronique haute résolution, une attention particulière étant accordée à la détermination des phases secondaires. De petites inclusions de Y2O3 dans les couches YBa2Cu3O$_{7-\delta}$ ainsi que des précipités de PrBaO3 dans les couches PrBa2Cu3O$_{7-\delta}$ ont été identifiés au travers de l'analyse d'images de réseaux et de leurs diffractogrammes.