INSTRUMENT AND METHOD FOR MEASURING LAMELLAR FINE STRUCTURE BY USING LOW INTERFERENCE OPTICAL INTERFEROMETRY

• Main Authors: TSUGITA, TETSUYA, MINAMI, KOJI, MINAMI, TAKAHIDE
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 28.05.1998
• Edition: 6
• Subjects: DIAGNOSIS; HUMAN NECESSITIES; HYGIENE; IDENTIFICATION; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; PHYSICS; SURGERY; TESTING

The end of a probe (5) through which a low coherence light is applied to a sample (S) is composed of an optical fiber (3) which does not have a coating 3Y and has a 3X-shaped coated fiber to improve the degree of contact between the probe (5) and the sample (S). A sample table (41) which can be moved in a z-axis direction is provided to a measurement instrument (1) and the probe (5) is attached to an arm (42) which can be moved in x-axis, y-axis and z-axis directions. It is preferable to attach an image pickup device (20) which picks up a magnified image of the part to be measured integrally with the probe (5). With the measurement instrument (1), observation data of OCM measurement can be accurately obtained even from a sample such as a skin which has an uneven and unsmooth surface. Further, the following of change with time and three-dimensional analysis of a lamellar fine structure of the sample can be performed. L'extrémité d'une sonde (5), par l'intermédiaire de laquelle on applique une lumière de cohérence basse à un échantillon S, est composée d'une fibre optique (3) exempte de revêtement 3Y mais possédant un revêtement de forme 3X afin d'améliorer le degré de contact entre la sonde (5) et l'échantillon S. Une table d'échantillon (41), qu'on peut déplacer sur un axe z, est accouplée à un instrument de mesure (1) et la sonde (5) est reliée à un bras (42) qu'on peut déplacer dans des sens suivant un axe x, un axe y et un axe z. Il est préférable de fixer un dispositif de saisie d'image (20) qui saisit une image magnifiée de la pièce à mesurer, ledit dispositif étant solidaire de la sonde (5). On peut obtenir des données d'observation extrêmement précises de mesure OCM au moyen de l'instrument de mesure (1), même à partir d'un échantillon, tel qu'une peau, présentant une surface irrégulière. On peut effectuer, de plus, le suivi de la modification d'une structure lamellaire fine de l'échantillon au moyen d'une analyse tridimensionnelle et temporelle.