SURFACE-TREATED ALUMINUM MATERIAL, PRODUCTION METHOD FOR SAME, AND MEMBER FOR SEMICONDUCTOR PROCESSING DEVICE

A surface-treated aluminum material (1) comprises: a base material (2) comprising aluminum or an aluminum alloy; and a protective film (3) that includes a hydrous oxide and an oxide of aluminum, and that is formed on at least part of a surface of the base material (2). The thickness of the protectiv...

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Main Authors KIKUCHI Tatsuya, NAKAJIMA Daiki
Format Patent
LanguageEnglish
French
Japanese
Published 17.10.2024
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Abstract A surface-treated aluminum material (1) comprises: a base material (2) comprising aluminum or an aluminum alloy; and a protective film (3) that includes a hydrous oxide and an oxide of aluminum, and that is formed on at least part of a surface of the base material (2). The thickness of the protective film (3) is not less than 2 μm. When the mass ratio of elements in the protective film (3) is analyzed in the depth direction via glow discharge optical emission spectrometry, the ratio CH/CAl of the integral value CH of the mass ratio of hydrogen atoms with respect to the integral value CAl of the mass ratio of aluminum atoms in the range from the surface of the protective film (3) to a position at a depth of 1 μm is 0.2-0.7. Un matériau d'aluminium traité en surface (1) comprend : un matériau de base (2) comprenant de l'aluminium ou un alliage d'aluminium ; et un film protecteur (3) qui comprend un oxyde hydraté et un oxyde d'aluminium, et qui est formé sur au moins une partie d'une surface du matériau de base (2). L'épaisseur du film protecteur (3) est supérieure ou égale à 2 µm. Lorsque le rapport massique des éléments dans le film protecteur (3) est analysé dans le sens de la profondeur par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente, le rapport CH/CAl de la valeur intégrale CH du rapport massique des atomes d'hydrogène par rapport à la valeur intégrale CAl du rapport massique des atomes d'aluminium dans la plage allant de la surface du film protecteur (3) à une position à une profondeur de 1 µm est de 0,2 à 0,7. 表面処理アルミニウム材(1)は、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる母材(2)と、アルミニウムの酸化物及び水和酸化物を含み、母材(2)の表面の少なくとも一部に形成された保護皮膜(3)と、を有している。保護皮膜(3)の厚みは2μm以上である。保護皮膜(3)中の元素の質量比率をグロー放電発光分析法により深さ方向に分析した場合に、保護皮膜(3)の表面から深さ1μmの位置までの範囲におけるアルミニウム原子の質量比率の積分値CAlに対する水素原子の質量比率の積分値CHの比CH/CAlが0.2以上0.7以下である。
AbstractList A surface-treated aluminum material (1) comprises: a base material (2) comprising aluminum or an aluminum alloy; and a protective film (3) that includes a hydrous oxide and an oxide of aluminum, and that is formed on at least part of a surface of the base material (2). The thickness of the protective film (3) is not less than 2 μm. When the mass ratio of elements in the protective film (3) is analyzed in the depth direction via glow discharge optical emission spectrometry, the ratio CH/CAl of the integral value CH of the mass ratio of hydrogen atoms with respect to the integral value CAl of the mass ratio of aluminum atoms in the range from the surface of the protective film (3) to a position at a depth of 1 μm is 0.2-0.7. Un matériau d'aluminium traité en surface (1) comprend : un matériau de base (2) comprenant de l'aluminium ou un alliage d'aluminium ; et un film protecteur (3) qui comprend un oxyde hydraté et un oxyde d'aluminium, et qui est formé sur au moins une partie d'une surface du matériau de base (2). L'épaisseur du film protecteur (3) est supérieure ou égale à 2 µm. Lorsque le rapport massique des éléments dans le film protecteur (3) est analysé dans le sens de la profondeur par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente, le rapport CH/CAl de la valeur intégrale CH du rapport massique des atomes d'hydrogène par rapport à la valeur intégrale CAl du rapport massique des atomes d'aluminium dans la plage allant de la surface du film protecteur (3) à une position à une profondeur de 1 µm est de 0,2 à 0,7. 表面処理アルミニウム材(1)は、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる母材(2)と、アルミニウムの酸化物及び水和酸化物を含み、母材(2)の表面の少なくとも一部に形成された保護皮膜(3)と、を有している。保護皮膜(3)の厚みは2μm以上である。保護皮膜(3)中の元素の質量比率をグロー放電発光分析法により深さ方向に分析した場合に、保護皮膜(3)の表面から深さ1μmの位置までの範囲におけるアルミニウム原子の質量比率の積分値CAlに対する水素原子の質量比率の積分値CHの比CH/CAlが0.2以上0.7以下である。
Author KIKUCHI Tatsuya
NAKAJIMA Daiki
Author_xml – fullname: KIKUCHI Tatsuya
– fullname: NAKAJIMA Daiki
BookMark eNqNi0sKwjAURTPQgZ_u4YHTFvrbQExebaBJJB8dliJxpG2h7h8jugBHl3M4d0tW4zSGDXlabxrKMHMGqUMOtPNSKC9BRjSCdimcjeaeOaEVSHSt5tBoA5ZKTIEqHqU8ovlKlIJp9ckjxSNDa4U6AceLYLgn6_vwWELy2x05NOhYm4V56sMyD7cwhld_1WVe1mVR11VOi-q_6g1yrzmP
ContentType Patent
DBID EVB
DatabaseName esp@cenet
DatabaseTitleList
Database_xml – sequence: 1
  dbid: EVB
  name: esp@cenet
  url: http://worldwide.espacenet.com/singleLineSearch?locale=en_EP
  sourceTypes: Open Access Repository
DeliveryMethod fulltext_linktorsrc
Discipline Medicine
Chemistry
Sciences
DocumentTitleAlternate MATÉRIAU D'ALUMINIUM TRAITÉ EN SURFACE, SON PROCÉDÉ DE PRODUCTION ET ÉLÉMENT POUR DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE SEMI-CONDUCTEUR
表面処理アルミニウム材、その製造方法及び半導体処理装置用部材
ExternalDocumentID WO2024214430A1
GroupedDBID EVB
ID FETCH-epo_espacenet_WO2024214430A13
IEDL.DBID EVB
IngestDate Fri Nov 01 05:39:26 EDT 2024
IsOpenAccess true
IsPeerReviewed false
IsScholarly false
Language English
French
Japanese
LinkModel DirectLink
MergedId FETCHMERGED-epo_espacenet_WO2024214430A13
Notes Application Number: WO2024JP08278
OpenAccessLink https://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20241017&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2024214430A1
ParticipantIDs epo_espacenet_WO2024214430A1
PublicationCentury 2000
PublicationDate 20241017
PublicationDateYYYYMMDD 2024-10-17
PublicationDate_xml – month: 10
  year: 2024
  text: 20241017
  day: 17
PublicationDecade 2020
PublicationYear 2024
RelatedCompanies UACJ CORPORATION
NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION HOKKAIDO UNIVERSITY
RelatedCompanies_xml – name: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION HOKKAIDO UNIVERSITY
– name: UACJ CORPORATION
Score 3.7062662
Snippet A surface-treated aluminum material (1) comprises: a base material (2) comprising aluminum or an aluminum alloy; and a protective film (3) that includes a...
SourceID epo
SourceType Open Access Repository
SubjectTerms APPARATUS THEREFOR
CHEMISTRY
ELECTROFORMING
ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES
METALLURGY
PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTIONOF COATINGS
Title SURFACE-TREATED ALUMINUM MATERIAL, PRODUCTION METHOD FOR SAME, AND MEMBER FOR SEMICONDUCTOR PROCESSING DEVICE
URI https://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20241017&DB=EPODOC&locale=&CC=WO&NR=2024214430A1
hasFullText 1
inHoldings 1
isFullTextHit
isPrint
link http://utb.summon.serialssolutions.com/2.0.0/link/0/eLvHCXMwfV1bT8IwFG4IGvVNUeMFTRPNniBO2Lg8EFPaTjB0I2ND3shat0SjQGTGv-9pBeWJt57Ttell5_JtPacI3aapVK0stavgrAJAaekckO1MarJhZ66jXHN7g_Abvdh5mriTAnpfx8KYPKHfJjkiSJQCec-Nvl78f8Ri5mzl8k6-Amv-4EUdZq3QMZgjeMMs1u3wYcACalEKuM3yQ1Ons4PVbQJYaQcc6aaWBz7u6riUxaZR8Q7R7hD6m-VHqPCWlNA-Xd-9VkJ7YvXLG4or6Vseo49RHHqE8moUcgIaB5NBLPp-LLAAMuyTQQUPw4DF5mAIFjzqBQwDzMMjIngFE58BU3R5-MvUWxD4-nGgoCHVqtV_xIyP-5SfoBuPR7RXhXFP_5Zp-hxsTrJ-ioqz-Sw9Q7iWNVwnUfWXtmo5Cfh0TttOalKBr2KnSspzVN7W08X26kt0oEmtz--bZVTMP7_SKzDUubw26_sDOJGNTg
link.rule.ids 230,309,783,888,25576,76876
linkProvider European Patent Office
linkToHtml http://utb.summon.serialssolutions.com/2.0.0/link/0/eLvHCXMwfV1bT8IwFG6IGvFNUeMFtYlmTxAnbFweiBlt56brRsaGvJGtbolGgciMf9_TCsoTbz3nrE3X7Vy-Xk4RusmyVHTyTK9DsAoApSNzQHbzVJItPTcNYarbG7jfcmLjcWyOS-h9dRZG5Qn9VskRQaME6Huh7PX8fxKLqr2Vi9v0FVizezvqUW2JjsEdwR-m0X6PDQIaEI0QwG2aHyqZzA7W1C3AStsQZLelPrBRX55Lma87FXsf7QygvWlxgEpvSQWVyerutQra5cslbygutW9xiD6GcWhbhNWjkFlgcbDlxdz1Y445kKFreTU8CAMaq40hmLPICSgGmIeHFmc1bPkUmLzPwl-m_ASBLx8HCioSaVr9B0zZyCXsCF3bLCJOHfo9-RumyXOw_pLNY7Q1nU2zE4Qbecs0EtF86YqOkUBMZ3T1pJEKiFX0TKTpKapuaulss_gKlZ2IexPP9Z_O0Z4USdt-166ireLzK7sAp12kl2qsfwAGhJBB
openUrl ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info%3Aofi%2Fenc%3AUTF-8&rfr_id=info%3Asid%2Fsummon.serialssolutions.com&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Apatent&rft.title=SURFACE-TREATED+ALUMINUM+MATERIAL%2C+PRODUCTION+METHOD+FOR+SAME%2C+AND+MEMBER+FOR+SEMICONDUCTOR+PROCESSING+DEVICE&rft.inventor=KIKUCHI+Tatsuya&rft.inventor=NAKAJIMA+Daiki&rft.date=2024-10-17&rft.externalDBID=A1&rft.externalDocID=WO2024214430A1