A SYSTEM AND A METHOD FOR RAPID SAMPLE PREPARATION FOR CHARGED PARTICLES MICROSCOPY

• Main Authors: DEMIRCI, Hasan, MALIK, Anjum Naeem, KEPCEOGLU, Abdullah, LAZOGLU, Ismail
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 12.09.2024
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

The present invention proposes a system (10) for rapid sample preparation for charged particles microscopy comprising a plunger assembly (20) comprising a shaft (21), a holder (22) for reversibly receiving an EM sample grid (30) at a first end of the shaft (21), and a triggering mechanism configured to cause the plunger assembly (20) to move from a first position to a second position upon occurrence of a triggering event; a charged particle source (40) configured to emit a charged particle beam towards the EM sample grid (30); a cryogen reservoir (50) configured to position a cryogenic liquid to receive the EM sample grid (30) when the plunger assembly moves to the second position. The present invention proposes also a method for rapid sample preparation for charged particles microscopy. La présente invention concerne un système (10) de préparation d'échantillon rapide pour microscopie à particules chargées comprenant un ensemble piston (20) constitué d'un arbre (21), d'un support (22) destiné à recevoir de manière réversible une grille d'échantillonnage de microscopie électronique (30) à une première extrémité de l'arbre (21), et d'un mécanisme de déclenchement configuré pour faire passer l'ensemble piston (20) d'une première position à une seconde position lors de la survenue d'un événement de déclenchement; une source de particules chargées (40) configurée pour émettre un faisceau de particules chargées vers la grille d'échantillon de microscopie électronique (30); un réservoir cryogénique (50) configuré pour positionner un liquide cryogénique afin de recevoir la grille d'échantillon de microscopie électronique (30) lorsque l'ensemble piston se déplace vers la seconde position. La présente invention concerne également un procédé de préparation d'échantillon rapide pour microscopie à particules chargées.