ELECTRON DIFFRACTION SYSTEM FOR CHARACTERIZING NANOCRYSTALLINE STRUCTURES
One variation of a system includes: a housing configured to hold a vacuum; a primary assembly; and a cooling assembly. The primary assembly includes: a sample receiver including a base section and a sample holder mounted to the base section and configured to transiently receive and retain a sample s...
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Format | Patent |
Language | English French |
Published |
12.09.2024
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Summary: | One variation of a system includes: a housing configured to hold a vacuum; a primary assembly; and a cooling assembly. The primary assembly includes: a sample receiver including a base section and a sample holder mounted to the base section and configured to transiently receive and retain a sample specimen; a receiver platform configured to receive and support the sample receiver; and a set of positioner stages flexibly coupled to the receiver platform and configured to transiently drive the sample holder to locate the sample specimen in a position intersecting an electron pathway. The cooling assembly includes: a cold finger defining an end submerged in a volume of coolant; and a conductive cooling braid coupled to the cold finger and to the primary assembly; and configured to communicate heat from the primary assembly into the cold finger to cool the sample specimen to temperatures within a target sample temperature range.
Une variante d'un système comprend : un boîtier configuré pour contenir un vide ; un ensemble primaire ; et un ensemble de refroidissement. L'ensemble primaire comprend : un récepteur d'échantillon comprenant une section de base et un porte-échantillon monté sur la section de base et configuré pour recevoir et retenir de manière transitoire un spécimen d'échantillon ; une plateforme de récepteur configurée pour recevoir et supporter le récepteur d'échantillon ; et un ensemble d'étages de positionneur couplés de manière flexible à la plateforme de récepteur et configurés pour entraîner de manière transitoire le porte-échantillon pour localiser le spécimen d'échantillon dans une position croisant une voie d'électrons. L'ensemble de refroidissement comprend : un doigt froid définissant une extrémité immergée dans un volume de fluide de refroidissement ; et une tresse de refroidissement conductrice couplée au doigt froid et à l'ensemble primaire ; et configurée pour communiquer de la chaleur provenant de l'ensemble primaire au doigt froid pour refroidir le spécimen d'échantillon à des températures dans une plage de températures d'échantillon cible. |
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Bibliography: | Application Number: WO2024IB00071 |