PROBE AND ELECTRICAL CONNECTION DEVICE

• Main Authors: HAYASHIZAKI Takayuki, KON Mizuho, TOYODA Misaki
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 13.06.2024
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; ELECTRICITY; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; SEMICONDUCTOR DEVICES; TESTING

According to the present invention, probes are inserted into guide holes in guide plates included in a probe head and are held by the probe head. The probes each comprise: a columnar base material; and a protective material which covers at least a portion of a side surface of the base material in a region passing through the guide hole, and has a higher hardness than the base material. The protective material, which covers the region of the base material passing through the same guide hole, is divided into a plurality of portions in the axial direction of the base material. La présente invention concerne des sondes qui sont insérées dans des trous de guidage dans des plaques de guidage comprises dans une tête de sonde et qui sont maintenues par la tête de sonde. Les sondes comprennent chacune : un matériau de base en colonne ; et un matériau de protection qui recouvre au moins une partie d'une surface latérale du matériau de base dans une région passant à travers le trou de guidage, et qui a une dureté supérieure à celle du matériau de base. Le matériau de protection, qui recouvre la région du matériau de base passant à travers le même trou de guidage, est divisé en une pluralité de parties dans la direction axiale du matériau de base. プローブは、プローブヘッドに含まれるガイド板のガイド穴に挿入されてプローブヘッドによって保持される。プローブは、柱形状の母材と、母材のガイド穴を通過する領域の側面の少なくとも一部を覆う、母材よりも硬度の高い保護材を備える。母材の同一のガイド穴を通過する領域を覆う保護材は、母材の軸方向に沿って複数の部分に分割されている。