SPECTROMETRY DEVICE, AND SPECTROMETRY METHOD

• Main Authors: TAKAHASHI Teruo, MASUOKA Hideki, OHTSUKA Kenichi, HOSOKAWA Kiyotada
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 14.03.2024
• Subjects: COLORIMETRY; MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; MEASURING; PHYSICS; RADIATION PYROMETRY; TESTING

An analyzing unit of this spectrometry device uses a first correction factor to correct a first electrical signal such that a linearity characteristic of a first amplifier matches a reference linearity characteristic. The analyzing unit uses a second correction factor to correct a second electrical signal such that a linearity characteristic of a second amplifier matches the reference linearity characteristic. The analyzing unit generates first spectrum data on the basis of the corrected first electrical signal, and generates second spectrum data on the basis of the corrected second electrical signal. The analyzing unit generates spectrum data of light to be measured, on the basis of the first spectrum data and the second spectrum data. Selon l'invention, une unité d'analyse de ce dispositif de spectrométrie utilise un premier facteur de correction pour corriger un premier signal électrique de telle sorte qu'une caractéristique de linéarité d'un premier amplificateur corresponde à une caractéristique de linéarité de référence. L'unité d'analyse utilise un second facteur de correction pour corriger un second signal électrique de telle sorte qu'une caractéristique de linéarité d'un second amplificateur corresponde à la caractéristique de linéarité de référence. L'unité d'analyse génère des premières données de spectre sur la base du premier signal électrique corrigé et génère des secondes données de spectre sur la base du second signal électrique corrigé. L'unité d'analyse génère des données de spectre de lumière à mesurer, sur la base des premières données de spectre et des secondes données de spectre. 分光測定装置における解析部は、第１補正係数を用いて第１アンプのリニアリティ特性が基準リニアリティ特性に一致するように第１電気信号を補正する。解析部は、第２補正係数を用いて第２アンプのリニアリティ特性が基準リニアリティ特性に一致するように第２電気信号を補正する。解析部は、補正された第１電気信号に基づいて第１スペクトルデータを生成し、補正された第２電気信号に基づいて第２スペクトルデータを生成する。解析部は、第１スペクトルデータ及び第２スペクトルデータに基づいて、被測定光のスペクトルデータを生成する。