DYNAMIC SWITCHING OF A DETECTOR SWITCH MATRIX

• Main Authors: VOLLMER, Bernd Michael, BEX, Jan, OBERST, Matthias, MOOK, Hindrik, NEUBAUER, Harald Gert Helmut, ULUDAG, Utku
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 15.02.2024
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS; ELECTRICITY; MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION; MEASURING; PHYSICS; TESTING

A charged particle detector includes an array of sensing elements that may be selectively grouped with each other by a switch matrix. The sensing elements may be grouped in a shape and location that corresponds to an expected shape and location of beam spot to be detected. During a detection process, the grouping of sensing elements may be updated in real time. Updating may include both adding peripheral sensing elements to the group, as well as removing peripheral sensing elements from the group. A sensing element may be added if it is determined to be receiving sufficient irradiation from the beam spot. A sensing element may be removed if it is determined to not be receiving sufficient irradiation from the beam spot. The determination may be made by a thresholding circuit located within each sensing element. Un détecteur de particules chargées comprend un réseau d'éléments de détection qui peuvent être sélectivement groupés les uns avec les autres par une matrice de commutation. Les éléments de détection peuvent être groupés en une forme et un emplacement qui correspondent à une forme et à un emplacement attendus du point de faisceau à détecter. Pendant un processus de détection, le groupement d'éléments de détection peut être mis à jour en temps réel. La mise à jour peut comprendre l'ajout d'éléments de détection périphériques au groupe, ainsi que l'élimination d'éléments de détection périphériques du groupe. Un élément de détection peut être ajouté s'il est déterminé qu'il doit recevoir une irradiation suffisante à partir du point de faisceau. Un élément de détection peut être retiré s'il est déterminé de ne pas recevoir une irradiation suffisante à partir du point de faisceau. La détermination peut être effectuée par un circuit de seuillage situé à l'intérieur de chaque élément de détection.