MULTI-CHAIN MEASUREMENT CIRCUIT

• Main Authors: XU, Pangjie, LU, Steven, DA SILVA CERQUEIRA, Joao Pedro, ZHAO, Bo
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 08.02.2024
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

A multi-chain measurement circuit is disclosed. The measurement circuit includes first and second chains of serially-connected buffer circuits coupled in parallel, each of which propagates an input signal. A set of storage circuits is configured to store logic values generated by the first and second sets of buffer circuits in response to the transitioning of a clock signal. The logic values stored in the storage circuits result in a digital value indicative of a total number of serially-connected storage circuits through which the input signal has propagated at the time of the transition of the operating clock signal La présente invention concerne un circuit de mesure à chaînes multiples. Le circuit de mesure comprend des première et seconde chaînes de circuits tampons connectés en série couplées en parallèle, chacune d'entre elles propageant un signal d'entrée. Un ensemble de circuits de stockage est configuré pour stocker les valeurs logiques générées par les premier et second ensembles de circuits tampons en réponse à la transition d'un signal d'horloge. Les valeurs logiques stockées dans les circuits de stockage conduisent à une valeur numérique indiquant un nombre total de circuits de stockage connectés en série à travers lesquels le signal d'entrée s'est propagé au moment de la transition du signal d'horloge de fonctionnement.