AUTOMATIC PROFILE GENERATION ON TEST MACHINE

• Main Authors: NAKAZATO, Jin, TAKAMI, Keisuke, TANAKA, Saki, KUCHITSU, Mitsuhiro, HORIUCHI, Haruka
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 04.01.2024
• Subjects: CALCULATING; COMPUTING; COUNTING; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING; PHYSICS

A test evaluation method according to the present disclosure includes: providing, on a virtual base, a first configuration for calculating actual data; setting a first measurement device for the first configuration; obtaining first data for the first configuration with the first measurement device; providing a second configuration in which one device in the first configuration has been replaced by a simulator; setting a second measurement device for the second configuration; obtaining second data for the second configuration with the second measurement device; and obtaining a differential profile for the first data and the second data.　The method may also include: evaluating the quality of the first configuration corresponding to a version of software for the first device, in accordance with the differential profile; including the quality evaluation of the first configuration in a release process ticket; and learning the relationship between the version and the number of bugs on the basis of the contents of the release process ticket. Un procédé d'évaluation de test selon la présente invention comprend les étapes suivantes : fournir, sur une base virtuelle, une première configuration pour calculer des données réelles ; régler un premier dispositif de mesure pour la première configuration ; obtenir des premières données pour la première configuration avec le premier dispositif de mesure ; fournir une deuxième configuration dans laquelle un dispositif dans la première configuration a été remplacé par un simulateur ; régler un deuxième dispositif de mesure pour la deuxième configuration ; obtenir des deuxièmes données pour la deuxième configuration avec le deuxième dispositif de mesure ; et obtenir un profil différentiel pour les premières données et les deuxièmes données.　Le procédé peut également comprendre les étapes suivantes : évaluer la qualité de la première configuration correspondant à une version de logiciel pour le premier dispositif, conformément au profil différentiel ; inclure l'évaluation de qualité de la première configuration dans un ticket de processus de publication ; et apprendre la relation entre la version et le nombre de bogues en fonction du contenu du ticket de processus de publication. 本開示に係る試験評価方法は、実績データの算出のための第１の構成を仮想化基盤上に提供することと、前記第１の構成のための第１の測定器を設定することと、前記第１の測定器による前記第１の構成に対する第１のデータを得ることと、前記第１の構成における１つの機器をシミュレータで置き換えた第２の構成を提供することと、前記第２の構成のための第２の測定器を設定することと、前記第２の測定器による前記第２の構成に対する第２のデータを得ることと、前記第１のデータと前記第２のデータの差分プロファイルを得ることと、 を含む。　前記差分プロファイルに応じて前記１つの機器のためのソフトウェアのバージョンに対応する前記第１の構成の品質評価をすることと、前記第１の構成の品質評価をリリースプロセスチケットに含ませることと、前記リリースプロセスチケットの内容に基づいて、前記バージョンとバグ数との関係を学習することと、を更に含んでもよい。