APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING A SAMPLE

• Main Authors: LAWRENCE, Nathan, CHAO, Sheng, JONES, Timothy Gareth John, FUJISAWA, Go, PULKA, Jaroslaw, CAMPOS DE FARIA, Debora
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 19.10.2023
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

An apparatus and a method are used for measuring a sample. The apparatus includes a crystal having at least one face in direct contact with the sample, at least one light source emitting and directing at least a first light beam and a second light beam into the same crystal such that the first light beam and the second light beam are totally internally reflected at the interface between the crystal and the sample, and at least one detector detecting the first light beam and the second light beam which have been totally internally reflected at the interface. The first light beam travels along a first optical path in the crystal and the second light beam travels along a second optical path in the crystal, and the first optical path is different from the second optical path in optical property. L'invention concerne un appareil et un procédé utilisés pour mesurer un échantillon. L'appareil comprend un cristal comportant au moins une face en contact direct avec l'échantillon, au moins une source de lumière émettant et dirigeant au moins un premier faisceau lumineux et un second faisceau lumineux dans le même cristal, de sorte que le premier faisceau lumineux et le second faisceau lumineux sont totalement réfléchis intérieurement au niveau de l'interface entre le cristal et l'échantillon, et au moins un détecteur détectant le premier faisceau lumineux et le second faisceau lumineux ayant été totalement réfléchis intérieurement au niveau de l'interface. Le premier faisceau lumineux se déplace le long d'un premier trajet optique dans le cristal et le second faisceau lumineux se déplace le long d'un second trajet optique dans le cristal, le premier trajet optique étant différent du second trajet optique du point de vue d'une propriété optique.