DIAGNOSIS DEVICE, DIAGNOSIS METHOD, AND DIAGNOSIS PROGRAM

• Main Authors: KIYOHARA, Shunji, KAWANO, Koji, KUMANOMIDOU, Yuuki, MATSUKI, Akihiro
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 05.10.2023
• Subjects: CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; CONTROLLING; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS; PHYSICS; REGULATING

The present invention addresses the problem of making it possible to easily ascertain not only state changes associated with changes in process values but also abnormal state changes in equipment. The present invention is a diagnosis device that diagnoses the state of equipment and comprises a storage unit that stores measurement data from sensors provided at various parts of the equipment and a processing unit that diagnoses the state of the equipment from the measurement data. The processing unit reads out measurement data from the sensors from the storage unit and performs: first processing that derives individual past state quantities and individual new state quantities, the individual past state quantities being various state quantities for the equipment calculated by processing past measurement data from the sensors, and the individual new state quantities being various state quantities for the equipment calculated by processing new measurement data; and second processing that derives a total past state quantity and a total new state quantity, the total past state quantity being a total state quantity for the equipment that combines the various individual past state quantities, and the total new state quantity being a total state quantity for the equipment that combines the various individual new state quantities. La présente invention aborde le problème consistant à permettre de déterminer facilement non seulement des changements d'état associés à des changements de valeurs de processus mais également des changements d'état anormaux dans un équipement. La présente invention est un dispositif de diagnostic qui diagnostique l'état d'un équipement, et comprend une unité de stockage qui stocke des données de mesure provenant de capteurs situés au niveau de diverses pièces de l'équipement et une unité de traitement qui diagnostique l'état de l'équipement à partir des données de mesure. L'unité de traitement lit des données de mesure provenant des capteurs à partir de l'unité de stockage et effectue : un premier traitement qui dérive des quantités d'état passées individuelles et de nouvelles quantités d'état individuelles, les quantités d'état passées individuelles étant diverses quantités d'état relatives à l'équipement calculées par traitement de données de mesure passées provenant des capteurs, et les nouvelles quantités d'état individuelles étant diverses quantités d'état relatives à l'équipement calculées par traitement de nouvelles données de mesure; et un second traitement qui dérive une quantité d'état passée totale et une nouvelle quantité d'état totale, la quantité d'état passée totale étant une quantité d'état totale relative à l'équipement qui combine les diverses quantités d'état passées individuelles, et la nouvelle quantité d'état totale étant une quantité d'état totale relative à l'équipement qui combine les diverses nouvelles quantités d'état individuelles. 本発明は、プロセス値の変化に伴う状態変化だけでなく通常ではない設備の状態変化を容易に捉えることを可能にすることを解決課題とする。本発明は、設備の状態を診断する診断装置であって、設備の各部に設けられたセンサーの計測データが記憶される記憶部と、計測データから設備の状態を診断する処理部と、を備え、処理部は、記憶部からセンサーの計測データを読み出すと、センサーの過去の計測データを処理することによって算出される設備の各種状態量である個別過去状態量と、新たな計測データを処理することによって算出される設備の各種状態量である個別新状態量とを導出する第１の処理と、各種の個別過去状態量を組み合わせた設備の総合の状態量である総合過去状態量と、各種の個別新状態量を組み合わせた設備の総合の状態量である総合新状態量と、を導出する第２の処理と、を実行する。