LEARNING DEVICE, LEARNING METHOD, AND LEARNING PROGRAM

• Main Authors: TAKEUCHI, Susumu, SAISHO, Osamu, WAKAMORI, Takuma, ZHAI, Hongjie, SUN, Jingyu
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 31.08.2023
• Subjects: CALCULATING; COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS; COMPUTING; COUNTING; PHYSICS

This learning device (10) calculates the similarity between samples used in machine learning of a learning model and calculates the similarity between beams including a plurality of samples. The learning device (10) sets a threshold value for the similarity between beams using the calculated similarity between samples and removes samples included in similar beams on the basis of the calculated similarity between beams and the set threshold value. The learning device (10) then performs machine learning of the learning model using samples other than the removed samples. Ce dispositif d'apprentissage (10) calcule la similarité entre des échantillons utilisés dans l'apprentissage automatique d'un modèle d'apprentissage et calcule la similarité entre des faisceaux comprenant une pluralité d'échantillons. Le dispositif d'apprentissage (10) définit une valeur seuil pour la similarité entre les faisceaux à l'aide de la similarité calculée entre les échantillons et élimine les échantillons inclus dans des faisceaux similaires sur la base de la similarité calculée entre les faisceaux et de la valeur seuil définie. Le dispositif d'apprentissage (10) effectue ensuite un apprentissage automatique du modèle d'apprentissage à l'aide d'échantillons autres que les échantillons éliminés. 学習装置（１０）は、学習モデルの機械学習に用いられるサンプル間の類似度を算出し、複数のサンプルを含むビーム間の類似度を算出する。そして、学習装置（１０）は、算出したサンプル間の類似度を用いて、ビーム間の類似度の閾値を設定し、算出したビーム間の類似度と、設定した閾値とに基づいて、類似するビームに含まれるサンプルを排除する。続いて、学習装置（１０）は、排除したサンプル以外のサンプルを用いて、学習モデルの機械学習を行う。