SOLID ELECTROLYTIC CAPACITOR ELEMENT AND SOLID ELECTROLYTIC CAPACITOR

• Main Authors: TAKESHITA Masatoshi, MAENISHI Mayumi
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 03.08.2023
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES ORLIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE; ELECTRICITY

The solid electrolytic capacitor element is incorporated in a solid electrolytic capacitor and comprises: an anode foil containing the element Al and containing a porous part in at least a surface layer; a dielectric layer that covers at least a part of the surface of the anode foil; and a solid electrolyte that covers at least a part of the dielectric layer. The solid electrolyte contains the element S and has, at the anode foil that has the dielectric layer, a first portion that is filled in the spaces of the porous part and a second portion that protrudes from the main surface of the anode foil that has the dielectric layer. In element mapping of the cross section of the porous part using an electron beam probe microanalyzer, the occurrence ratio of the element S is at least 0.5% using 100% for the occurrence ratio of the element Al. L'invention concerne un élément de condensateur électrolytique solide qui est incorporé dans un condensateur électrolytique solide et comprend : une feuille d'anode contenant l'élément Al et contenant une partie poreuse dans au moins une couche de surface ; une couche diélectrique qui recouvre au moins une partie de la surface de la feuille d'anode ; et un électrolyte solide qui recouvre au moins une partie de la couche diélectrique. L'électrolyte solide contient l'élément S et a, au niveau de la feuille d'anode qui a la couche diélectrique, une première partie qui est remplie dans les espaces de la partie poreuse et une seconde partie qui fait saillie à partir de la surface principale de la feuille d'anode qui a la couche diélectrique. Dans le mappage d'éléments de la section transversale de la partie poreuse à l'aide d'un micro-analyseur de sonde à faisceau d'électrons, le rapport d'occurrence de l'élément S est d'au moins 0,5 % à l'aide de 100 % pour le rapport d'occurrence de l'élément Al. 固体電解コンデンサに含まれる固体電解コンデンサ素子は、Ａｌ元素を含むとともに少なくとも表層に多孔質部を含む陽極箔と、前記陽極箔の少なくとも一部の表面を覆う誘電体層と、前記誘電体層の少なくとも一部を覆う固体電解質と、を含む。前記固体電解質は、Ｓ元素を含むとともに、前記誘電体層を有する前記陽極箔において、前記多孔質部の空隙内に充填された第１部分と、前記誘電体層を有する前記陽極箔の主面からはみ出した第２部分とを有する。前記多孔質部の断面の電子線プローブマイクロアナライザを用いた元素マッピングにおいて、Ａｌ元素の存在比率を１００％としたときのＳ元素の存在比率は０．５％以上である。