INSPECTION SYSTEM

• Main Authors: MAY, Clyde, NISIUS, David, VENKATACHALAM, Rajashekar, IMAN, John
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 20.07.2023
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION; MEASURING; PHYSICS; TESTING

Some embodiments include an inspection system, comprising: a radiation source; a radiation detector including an imaging array; a support structure configured to maintain a spatial relationship between the radiation source and the radiation detector; a motion control system configured to move an object relative to the radiation detector; control logic configured to: control the motion control system to move the object relative to the radiation detector; and combine data from multiple frames from the radiation detector as the object moves relative to the radiation detector into a single image. Certains modes de réalisation comprennent un système d'inspection, comportant : une source de rayonnement ; un détecteur de rayonnement comprenant un réseau d'imagerie ; une structure de support configurée pour maintenir une relation spatiale entre la source de rayonnement et le détecteur de rayonnement ; un système de commande de déplacement configuré pour déplacer un objet par rapport au détecteur de rayonnement ; une logique de commande configurée pour : commander au système de commande de déplacement de déplacer l'objet par rapport au détecteur de rayonnement ; et combiner des données provenant de multiples trames provenant du détecteur de rayonnement lorsque l'objet se déplace par rapport au détecteur de rayonnement en une seule image.