RESIST COMPOSITION AND RESIST PATTERN FORMATION METHOD
The resist composition comprises: a resin component (A1) that exhibits a change in solubility in a developing solution due to the action of an acid; a photodegradable base (D0); and a fluorine additive component (F). The fluorine additive component (F) comprises a polymer compound that contains a co...
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Format | Patent |
Language | English French Japanese |
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22.06.2023
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Summary: | The resist composition comprises: a resin component (A1) that exhibits a change in solubility in a developing solution due to the action of an acid; a photodegradable base (D0); and a fluorine additive component (F). The fluorine additive component (F) comprises a polymer compound that contains a constituent unit (f01) given by formula (f01-1) and a constituent unit (f02) given by formula (f02-1). R is a hydrogen atom and so forth. Vf01 is an alkylene group or a halogenated alkylene group. Yf01 is -CO-O- or -O-CO-. Rf01 is a fluorine atom-containing organic group. Vf02 is a divalent hydrocarbon group. Rf02 is an acid-cleavable group given by formula (f02-r1-1). Rf021, Rf022, Rf023, Rf024, and Rf025 are a hydrocarbon group. Yf02 is a quaternary carbon atom.
La présente composition de réserve comprend : un composant de résine (A1) dont la solubilité change dans une solution de développement dû à l'action d'un acide ; une base photodégradable (D0) ; et un composant additif fluoré (F). Le composant additif fluoré (F) comprend un composé polymère qui contient un motif constitutif (f01) donné par la formule (f01-1) et un motif constitutif (f02) donné par la formule (f02-1). R représente un atome d'hydrogène et ainsi de suite. Vf01 représente un groupe alkylène ou un groupe alkylène halogéné. Yf01 représente -CO-O- ou -O-CO-. Rf01 représente un groupe organique contenant un atome de fluor. Vf02 représente un groupe hydrocarboné divalent. Rf02 représente un groupe clivable par un acide donné par la formule (f02-r1-1). Rf021, Rf022, Rf023, Rf024 et Rf025 représentent un groupe hydrocarboné. Yf02 représente un atome de carbone quaternaire.
酸の作用により現像液に対する溶解性が変化する樹脂成分(A1)、光崩壊性塩基(D0)及びフッ素添加剤成分(F)を含有するレジスト組成物。フッ素添加剤成分(F)は、式(f01-1)で表される構成単位(f01)及び式(f02-1)で表される構成単位(f02)を有する高分子化合物を含む。Rは水素原子等。Vf01はアルキレン基又はハロゲン化アルキレン基。Yf01は-CO-O-又は-O-CO-。Rf01はフッ素原子を含む有機基。Vf02は2価の炭化水素基。Rf02は式(f02-r1-1)で表される酸解離性基。Rf021、Rf022、Rf023、Rf024及びRf025は炭化水素基。Yf02は第4級炭素原子。 |
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Bibliography: | Application Number: WO2022JP45673 |