CHALCOGENIDE PEROVSKITE AND CHALCOGENIDE PEROVSKITE PRODUCTION METHOD USING LIQUID PHASE SYNTHESIS

• Main Authors: KIMOTO, Yoshinori, KATO, Takuya, INATOME, Toru
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 08.06.2023
• Subjects: CHEMISTRY; COMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSESC01D OR C01F; INORGANIC CHEMISTRY; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; METALLURGY; NANOTECHNOLOGY; PERFORMING OPERATIONS; SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; TRANSPORTING

Provided is chalcogenide perovskite wherein: the crystallite size τ1 is less than 40 nm, as calculated using the Scherrer equation on the basis of a diffraction peak having the maximum peak height in an X-ray diffraction spectrum obtained by X-ray diffraction measurement; and, in an image area captured by a microscope, the ratio of the total area occupied by particles having a particle diameter of 10 μm or more, as measured by microscope, with respect to the total area occupied by particles present in the captured image area is 10% or less. L'invention concerne une pérovskite de chalcogénure dans laquelle : la taille des cristallites tau1 est inférieure à 40 nm, telle que calculée à l'aide de l'équation de Scherrer sur la base d'un pic de diffraction ayant la hauteur de pic maximale dans un spectre de diffraction des rayons X obtenu par mesure par diffraction des rayons X ; et, dans une zone d'image capturée par un microscope, le rapport de la surface totale occupée par des particules ayant un diamètre de particule supérieur ou égal à 10 µm, mesuré par microscope, par rapport à la surface totale occupée par les particules présentes dans la zone d'image capturée est inférieur ou égal à 10 %. Ｘ線回折測定により得られるＸ線回折スペクトルにおいて、ピーク高さが最大の回折ピークに基づいて、シェラー式により算出される結晶子サイズτ１が４０ｎｍ未満であり、顕微鏡で撮影した画像範囲において、撮影画像範囲内に存在する粒子が占める総面積に対する、顕微鏡法により測定される粒子径が１０μｍ以上である粒子が占める総面積の割合が１０％以下である、カルコゲナイドペロブスカイト。