METHOD, OPTICAL SYSTEM, TEST DEVICE AND ARRANGEMENT

• Main Authors: KRONE, Stefan, URBAN, Sven
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 08.06.2023
• Subjects: APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR; CINEMATOGRAPHY; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY; MATERIALS THEREFOR; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; ORIGINALS THEREFOR; PHOTOGRAPHY; PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES,e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTORDEVICES; PHYSICS; TESTING

A method for checking an interface (120) for the wired transmission of electrical signals to an electronics unit (110), arranged in a vacuum-tight housing (105), of an optics module (100) comprises: a) coupling (S1) a first bundle (122) of the interface (120) to the electronics unit (110), b) connecting (S2) a test device (300) to a free end of the first bundle (122), c) applying (S3) an electrical test signal generated by the test device (300) to a specific pair of electrical lines of the first bundle (122), d) acquiring (S4) an electrical response signal from the specific pair of electrical lines, e) comparing (S5) the acquired response signal with a response signal predetermined for the specific pair, and f) determining (S6) whether a defect is present in one of the electrical lines of the pair on the basis of the comparison. Un procédé de vérification d'une interface (120) pour la transmission filaire de signaux électriques à une unité électronique (110), disposé dans un boîtier étanche au vide (105), d'un module optique (100) comprend : a) le couplage (S1) d'un premier faisceau (122) de l'interface (120) à l'unité électronique (110), b) la liaison (S2) d'un dispositif de test (300) à une extrémité libre du premier faisceau (122), c) l'application (S3) d'un signal de test électrique généré par le dispositif de test (300) à une paire spécifique de lignes électriques du premier faisceau (122), d) l'acquisition (S4) d'un signal de réponse électrique provenant de la paire spécifique de lignes électriques, e) la comparaison (S5) du signal de réponse acquis avec un signal de réponse prédéterminé pour la paire spécifique, et f) la détermination (S6) quant à savoir si un défaut est présent dans l'une des lignes électriques de la paire sur la base de la comparaison.