ELECTROLUMINESCENCE INSPECTION APPARATUS

• Main Authors: LEE, Changjoon, MIN, Sungyong, KIM, Jinyoung, CHUNG, Changkyu, HWANG, Daesuck, JANG, Kyungwoon
• Format: Patent
• Language: English; French; Korean
• Published: 25.05.2023
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

An electroluminescence inspection apparatus is disclosed. The electroluminescence inspection apparatus may comprise: a first substrate; a plurality of electrode members arranged on a first surface of the first substrate and having elasticity; a driving circuit disposed on a second surface of the first substrate located opposite to the first surface of the first substrate and applying a current to a plurality of light emitting diodes arranged on a second substrate through the plurality of electrode members; and a plurality of connection wires electrically connecting the plurality of electrode members and the driving circuit. Un appareil d'inspection à électroluminescence est divulgué. L'appareil d'inspection à électroluminescence peut comprendre : un premier substrat ; une pluralité d'éléments d'électrode disposés sur une première surface du premier substrat et ayant une élasticité ; un circuit d'attaque agencé sur une seconde surface du premier substrat situé à l'opposé de la première surface du premier substrat et appliquant un courant à une pluralité de diodes électroluminescentes disposées sur un second substrat à travers la pluralité d'éléments d'électrode ; et une pluralité de fils de connexion connectant électriquement la pluralité d'éléments d'électrode et le circuit d'attaque. 전계 발광 검사 장치가 개시된다. 전계 발광 검사 장치는, 제1 기판과, 제1 기판의 제1 면에 배열되고 탄성력을 가지는 복수의 전극 부재와, 제1 기판의 제1 면의 반대 측에 위치한 제1 기판의 제2 면에 배치되며 복수의 전극 부재를 통해 제2 기판에 배열된 복수의 발광 다이오드에 전류를 인가하는 구동 회로와, 복수의 전극 부재와 구동 회로를 전기적으로 연결하는 복수의 연결 배선을 포함할 수 있다.