IMAGING SYSTEM WITH WIDE X-RAY BEAM AND CIRCUMFERENTIALLY ARRANGED DETECTION MECHANISM

• Main Authors: STAR-LACK, Josh M, STAMM, Michael, EHRAT, Matthias, SHEDLOCK, Daniel, NISIUS, David T, ANDREWS, Gregory C
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 02.03.2023
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

An imaging system for inspecting multiple objects includes an x-ray source having a beam width greater than or equal to a threshold beam size. The multiple objects is irradiated by the x-ray source in respective controlled inspection positions. A detection mechanism is adapted to acquire respective images of the multiple objects in the respective controlled inspection positions. The detection mechanism includes one or more detectors arranged circumferentially around a central axis. At least one positioning mechanism is adapted to move the multiple objects into and out of the respective controlled inspection positions. Un système d'imagerie pour inspecter de multiples objets comprend une source de rayons x ayant une largeur de faisceau supérieure ou égale à une taille de faisceau de seuil. Les multiples objets sont irradiés par la source de rayons x dans des positions d'inspection commandées respectives. Un mécanisme de détection est conçu pour acquérir des images respectives des multiples objets dans les positions d'inspection commandées respectives. Le mécanisme de détection comprend un ou plusieurs détecteurs disposés de manière circonférentielle autour d'un axe central. Au moins un mécanisme de positionnement est conçu pour déplacer les multiples objets dans et hors des positions d'inspection commandées respectives.