BACKSCATTER IMAGING SYSTEM

• Main Authors: SHEDLOCK, Daniel, NISIUS, David
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 10.11.2022
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

An x-ray system, comprising: a backscatter detector, comprising: an x-ray conversion material; a plurality of sensors configured to generate electrical signals in combination with the x-ray conversion material in response to incident x-rays; and a collimator disposed on the x-ray conversion material and including a plurality of partitions extending away from the x- ray conversion material and the sensors and forming a plurality of openings, each opening corresponding to one of the sensors. Un système à rayons X comprenant : un détecteur à rétrodiffusion, comprenant : un matériau de conversion de rayons X ; une pluralité de capteurs configurés pour générer des signaux électriques en combinaison avec le matériau de conversion de rayons X en réponse à des rayons X incidents ; et un collimateur disposé sur le matériau de conversion de rayons X et comprenant une pluralité de cloisons s'étendant à l'opposé du matériau de conversion de rayons X et des capteurs et formant une pluralité d'ouvertures, chaque ouverture correspondant à l'un des capteurs.