SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE

Provided is a semiconductor device having good electrical characteristics. Provided is a highly reliable semiconductor device. This semiconductor device has a first transistor and a second transistor. The first transistor has a first semiconductor layer, a first insulation layer, a second insulation...

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Main Authors SHIMA, Yukinori, HANDA, Takuya
Format Patent
LanguageEnglish
French
Japanese
Published 20.10.2022
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Summary:Provided is a semiconductor device having good electrical characteristics. Provided is a highly reliable semiconductor device. This semiconductor device has a first transistor and a second transistor. The first transistor has a first semiconductor layer, a first insulation layer, a second insulation layer, and a first gate electrode laminated in this order. The first gate electrode has a region that overlaps the first semiconductor layer. The second transistor has a second semiconductor layer, a second insulation layer, and a second gate electrode laminated in this order. The second gate electrode has a region that overlaps the second semiconductor layer. La présente invention concerne un dispositif à semi-conducteur ayant de bonnes caractéristiques électriques. Un dispositif à semi-conducteur hautement fiable est fourni. Le dispositif à semi-conducteur comprend un premier transistor et un second transistor. Le premier transistor a une première couche semi-conductrice, une première couche d'isolation, une seconde couche d'isolation et une première électrode de grille stratifiées dans cet ordre. La première électrode de grille a une région qui chevauche la première couche semi-conductrice. Le second transistor comprend une seconde couche semi-conductrice, une seconde couche isolante et une seconde électrode de grille stratifiées dans cet ordre. La seconde électrode de grille a une région qui chevauche la seconde couche semi-conductrice. 電気特性の良好な半導体装置を提供する。信頼性の高い半導体装置を提供する。 第1のトランジスタと、第2のトランジスタと、を有する半導体装置とする。第1のトランジスタは、第1の半導体層と、第1の絶縁層と、第2の絶縁層と、第1のゲート電極と、をこの順に積層して有する。第1のゲート電極は、第1の半導体層と重なる領域を有する。第2のトランジスタは、第2の半導体層と、第2の絶縁層と、第2のゲート電極と、をこの順に積層して有する。第2のゲート電極は、第2の半導体層と重なる領域を有する。
Bibliography:Application Number: WO2022IB53094