ELEMENTAL ANALYSIS DEVICE

• Main Authors: INOUE, Takahito, UCHIHARA, Hiroshi
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 17.03.2022
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

In order to provide an elemental analysis device whereby an electrode tip is made replaceable, but air can be prevented from becoming trapped inside the electrode during replacement, and whereby error in elemental analysis can be reduced, the present invention is an elemental analysis device 100 in which a crucible MP containing a sample is held between a first electrode 31 and a second electrode 32, and an electric current is passed between the first electrode 31 and the second electrode 32, thereby heating the sample, wherein the second electrode 32 comprises a second electrode body 32B provided with a substantially cylindrical distal-end part, a second electrode tip 32C provided to the distal-end surface of the second electrode body 32B, a cap 32D which holds the second electrode tip 32C between the second electrode body 32B and the cap 32D in a state in which a portion of the second electrode tip 32C is exposed to the outside, and a second screwing structure 32S comprising a male threaded part S1 and a female threaded part S2 formed between the second electrode body 32B and the cap 32D, the second screwing structure 32S further comprising a gas venting groove 321 which extends in the pitch direction in the male threaded part S1 and/or the female threaded part S2 and is formed by cutting off a portion of the screw threads. Afin de fournir un dispositif d'analyse élémentaire grâce auquel une pointe d'électrode est rendue remplaçable, mais grâce auquel le piégeage d'air à l'intérieur de l'électrode pendant le remplacement peut être empêché et grâce auquel les erreurs affectant l'analyse élémentaire peuvent être réduites, la présente invention concerne un dispositif d'analyse élémentaire 100 dans lequel un creuset MP contenant un échantillon est maintenu entre une première électrode 31 et une seconde électrode 32, et un courant électrique est amené à circuler entre la première électrode 31 et la seconde électrode 32, ce qui permet de chauffer l'échantillon. La seconde électrode 32 comprend un corps de seconde électrode 32B pourvu d'une partie d'extrémité distale sensiblement cylindrique, d'une pointe de seconde électrode 32C disposée sur la surface d'extrémité distale du corps de la seconde électrode 32B, d'un capuchon qui maintient la pointe de la seconde électrode 32C entre le corps de la seconde électrode 32B et le capuchon 32D de façon à ce qu'une partie de la pointe de la seconde électrode 32C soit visible à l'extérieur, et d'une seconde structure de vissage 32S comprenant une partie filetée mâle S1 et une partie filetée femelle S2 formées entre le corps de la seconde électrode 32B et le capuchon 32D, la seconde structure de vissage 32S comprenant en outre une rainure d'évacuation de gaz 321 qui se prolonge dans la direction du pas dans la partie filetée mâle S1 et/ou la partie filetée femelle S2 et qui est formée par découpe d'une partie des filetages. 電極チップを交換可能にしながらも、交換時に空気が電極内に閉じ込められないようにでき、元素分析における誤差を低減できる元素分析装置を提供するために、試料が入れられたるつぼＭＰを第１電極３１と第２電極３２との間で挟持し、前記第１電極３１及び前記第２電極３２間に電流を流すことで前記試料を加熱する元素分析装置１００であって、前記第２電極３２が、概略円筒状の先端部を具備する第２電極本体３２Ｂと、前記第２電極本体３２Ｂの先端面に設けられる第２電極チップ３２Ｃと、前記第２電極本体３２Ｂとの間で前記第２電極チップ３２Ｃの一部を外部に露出させた状態で挟み込むキャップ３２Ｄと、前記第２電極本体３２Ｂと前記キャップ３２Ｄとの間に形成された雄ネジ部Ｓ１と雌ネジ部Ｓ２からなる第２螺合構造３２Ｓと、を具備し、前記第２螺合構造３２Ｓが、前記雄ネジ部Ｓ１又は前記雌ネジ部Ｓ２の少なくとも一方において、ピッチ方向に延び、ネジ山の一部を切り欠くように形成されたガス抜き溝３２１をさらに具備した。