MEANS AND METHODS OF MEASURING REFRACTION

In an embodiment, multiple conjugate planes are used to create a plurality of optical pupil planes and a plurality of image planes. These optical planes solve multiple problems and introduce significant performance enhancements in the system. In one implementation of a disclosed embodiment, the meas...

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Main Authors SERRI, John, SAPIENS, Noam
Format Patent
LanguageEnglish
French
Published 20.01.2022
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Summary:In an embodiment, multiple conjugate planes are used to create a plurality of optical pupil planes and a plurality of image planes. These optical planes solve multiple problems and introduce significant performance enhancements in the system. In one implementation of a disclosed embodiment, the measurement channel is based on the reverse Shack-Hartmann principle. By introducing a relay system (for example a 4-f lens system) the slit plane could be made conjugate to the measured system pupil plane (unlike a previous implementation where the slits were places away from the pupil plane as it was not accessible directly). Creating a virtual pupil plane allows for more accurate placement of the plane without the need for contact with the measured optical system. Dans un mode de réalisation, de multiples plans conjugués sont utilisés pour créer une pluralité de plans de pupille optique et une pluralité de plans d'image. Ces plans optiques résolvent de multiples problèmes et introduisent d'importantes améliorations de performances dans le système. Dans une exécution d'un mode de réalisation décrit, le canal de mesure est basé sur le principe de Shack-Hartmann inversé. Par l'introduction d'un système de relais (par exemple, un système de lentille 4-f), le plan de fente pourrait être conjugué au plan de pupille du système mesuré (contrairement à une exécution précédente où les fentes ont été placées à distance du plan de pupille étant donné qu'il n'était pas directement accessible). La création d'un plan de pupille virtuel permet un placement plus précis du plan sans qu'il soit nécessaire d'entrer en contact avec le système optique mesuré.
Bibliography:Application Number: WO2021US42032