SYSTEMS, DEVICES, AND METHODS FOR ION BEAM MODULATION
Embodiments of systems, devices, and methods relate to an ion beam source system. An ion source is configured to provide a negative ion beam to a tandem accelerator system downstream of the ion source, and a modulator system connected to an extraction electrode of the ion source is configured to bia...
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Format | Patent |
Language | English French |
Published |
30.12.2021
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Summary: | Embodiments of systems, devices, and methods relate to an ion beam source system. An ion source is configured to provide a negative ion beam to a tandem accelerator system downstream of the ion source, and a modulator system connected to an extraction electrode of the ion source is configured to bias the extraction electrode for a duration sufficient to maintain acceleration voltage stability of the tandem accelerator system.
Selon des modes de réalisation, l'invention concerne des systèmes, des dispositifs et des procédés se rapportant à un système source de faisceau d'ions. Une source d'ions est configurée pour fournir un faisceau d'ions négatifs à un système accélérateur tandem en aval de la source d'ions, et un système modulateur connecté à une électrode d'extraction de la source d'ions est configuré pour polariser l'électrode d'extraction pendant une durée suffisante pour maintenir la stabilité de la tension d'accélération du système accélérateur tandem. |
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Bibliography: | Application Number: WO2021US38652 |