OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

• Main Authors: MATSUMURA Tomokazu, KONDO Fusanori, IWATA Naoki, TAKESHITA Teruo
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 07.10.2021
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

In first processing, this optical measurement device: emits excitation light onto a reference member; detects, as detection light, light for calibration processing that includes scattered excitation light from the reference member; and uses a calibration signal corresponding to the light for calibration processing as a detection signal for carrying out calibration processing for removing a signal component corresponding to scattered light from a detection signal in second processing. Further, in the second processing, the optical measurement device: emits excitation light onto a sample; detects, as detection light, light for measurement that includes fluorescence produced by the sample and scattered light from the sample that has had the excitation light emitted thereon; and removes, from a measurement signal, the signal component corresponding to the scattered light in the result of carrying out the calibration processing in the first processing. La présente invention concerne un dispositif de mesure optique qui, lors d'un premier traitement, émet une lumière d'excitation sur un élément de référence ; détecte, en tant que lumière de détection, une lumière pour un traitement d'étalonnage qui inclut une lumière d'excitation diffusée provenant de l'élément de référence ; et utilise un signal d'étalonnage correspondant à la lumière pour un traitement d'étalonnage en tant que signal de détection pour effectuer un traitement d'étalonnage pour éliminer une composante de signal correspondant à la lumière diffusée d'un signal de détection dans un second traitement. En outre, lors du second traitement, le dispositif de mesure optique : émet une lumière d'excitation sur un échantillon ; détecte, en tant que lumière de détection, une lumière de mesure qui inclut la fluorescence produite par l'échantillon et la lumière diffusée provenant de l'échantillon sur lequel la lumière d'excitation a été émise ; et élimine, d'un signal de mesure, la composante de signal correspondant à la lumière diffusée en conséquence de la réalisation du traitement d'étalonnage dans le premier traitement. 光学測定装置では、第１処理において、リファレンス部材に励起光を照射し、リファレンス部材からの励起光の散乱光を含むキャリブレーション処理用光を検出光として検出し、キャリブレーション処理用光に応じたキャリブレーション信号を検出信号として、第２処理における検出信号から散乱光に応じた信号成分を除去するためのキャリブレーション処理を実施する。また、光学測定装置では、第２処理において、試料に励起光を照射し、試料から生じる蛍光、及び、励起光が照射された試料からの散乱光を含む測定対象光を検出光として検出し、測定信号から、第１処理におけるキャリブレーション処理の実施結果における散乱光に応じた信号成分を除去する。