OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

• Main Authors: MATSUMURA Tomokazu, KONDO Fusanori, IWATA Naoki, TAKESHITA Teruo
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 07.10.2021
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

This optical measurement device is provided with an irradiation optical system, a detection optical system, and a cancellation circuit. In a fluorescence detection process, a sample which is an irradiation target is irradiated with irradiation light, measurement target light which includes fluorescence generated from the sample irradiated with the irradiation light and includes scattered light from the sample irradiated with the irradiation light is detected as detection light, and, with consideration of the result of a calibration process carried out in a preliminary process, a signal component corresponding to the scattered light is removed from a measured signal corresponding to the measurement target light. In the preliminary process, the calibration process is carried out for removing the signal component corresponding to the scattered light from the measured signal on the basis of a calibration signal having a signal amount greater than that of the signal corresponding to the scattered light in the measured signal. L'invention concerne un dispositif de mesure optique étant pourvu d'un système optique d'irradiation, d'un système optique de détection et d'un circuit d'annulation. Dans un procédé de détection de fluorescence, un échantillon qui est une cible d'irradiation est irradié avec une lumière d'irradiation, une lumière cible de mesure qui comprend une fluorescence générée à partir de l'échantillon irradié avec la lumière d'irradiation et comprend une lumière diffusée provenant de l'échantillon irradié avec la lumière d'irradiation est détectée en tant que lumière de détection, et, en tenant compte du résultat d'un processus d'étalonnage réalisé dans un processus préliminaire, une composante de signal correspondant à la lumière diffusée est éliminée d'un signal mesuré correspondant à la lumière cible de mesure. Dans le processus préliminaire, le processus d'étalonnage est exécuté pour éliminer la composante de signal correspondant à la lumière diffusée du signal mesuré sur la base d'un signal d'étalonnage ayant une quantité de signal supérieure à celle du signal correspondant à la lumière diffusée dans le signal mesuré. 光学測定装置は、照射光学系と、検出光学系と、キャンセル回路と、を備え、蛍光検出処理では、試料を照射対象として、試料に照射光を照射し、照射光が照射された試料から生じる蛍光、及び、照射光が照射された試料からの散乱光を含む測定対象光を検出光として検出し、事前処理におけるキャリブレーション処理の実施結果を考慮して、測定対象光に応じた測定信号から散乱光に応じた信号成分を除去し、事前処理では、測定信号における散乱光に対応する信号よりも信号量が大きい、キャリブレーション信号に基づき、測定信号から散乱光に応じた信号成分を除去するためのキャリブレーション処理を実施する。