OPTICAL TESTING DEVICE

• Main Authors: SAKURAI Takao, SUGAWARA Toshihiro
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 19.08.2021
• Subjects: ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION ORRERADIATION OF RADIO WAVES; MEASURING; PHYSICS; RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; TESTING

[Problem] To prevent the distance between an instrument for acquiring reflected light and an object under measurement from becoming long during testing of the instrument. [Solution] An optical testing device 1 is used to test an optical measurement instrument 2 for emitting incident light from a light source 2a onto an incidence object 4 and acquiring reflected light resulting from the reflection of the incident light by the incidence object 4. The optical testing device 1 comprises a photodetector 1a for receiving incident light and a laser diode 1c for applying an optical signal to the incidence object 4 after a prescribed delay time has passed since the photodetector 1a received the incident light. The reflected light signal resulting from the reflection of the light signal by the incidence object 4 is applied to the optical measurement instrument 2. The delay time is roughly equivalent to the time from the emission of the incident light from the light source 2a until the acquisition of the reflected light by the optical measurement instrument 2 when the optical measurement instrument 2 is actually used. Le problème décrit par la présente invention est d'empêcher que la distance entre un instrument servant à acquérir une lumière réfléchie et un objet en cours de mesure devienne longue pendant le test de l'instrument. La solution selon l'invention est sur un dispositif de test optique 1 permettant de tester un instrument de mesure optique 2 pour émettre une lumière incidente provenant d'une source de lumière 2a vers un objet d'incidence 4 et pour acquérir une lumière réfléchie consécutive à la réflexion de la lumière incidente par l'objet d'incidence 4. Le dispositif de test optique 1 comprend un photodétecteur 1a servant à recevoir une lumière incidente et une diode laser 1c servant à appliquer un signal optique sur l'objet d'incidence 4 après qu'un temps de retard prédéfini s'est écoulé depuis que le photodétecteur 1a a reçu la lumière incidente. Le signal lumineux réfléchi résultant de la réflexion du signal lumineux par l'objet d'incidence 4 est appliqué sur l'instrument de mesure optique 2. Le temps de retard est approximativement équivalent au temps allant de l'émission de la lumière incidente provenant de la source de lumière 2a jusqu'à l'acquisition de la lumière réfléchie par l'instrument de mesure optique 2 lorsque l'instrument de mesure optique 2 est réellement utilisé. 【課題】反射光を取得する器具の試験の際に、この器具と測定対象との距離が長くなることを防止する。 【解決手段】光源２ａからの入射光を入射対象４に与えて、入射光が入射対象４により反射された反射光を取得する光学測定器具２を試験する際に光学試験用装置１を使用する。光学試験用装置１は、入射光を受ける光検出器１ａと、光検出器１ａが入射光を受けてから所定の遅延時間だけ経過した後、光信号を入射対象４に与えるレーザーダイオード１ｃとを備える。光信号が入射対象４により反射された反射光信号が、光学測定器具２に与えられる。遅延時間が、光学測定器具２を実際に使用する場合の、光源２ａから入射光が照射されてから、光学測定器具２により反射光が取得されるまでの時間にほぼ等しい。