RANGING DEVICE, RANGING METHOD, PROGRAM, ELECTRONIC APPARATUS, LEARNING MODEL GENERATION METHOD, MANUFACTURING METHOD, AND DEPTH MAP GENERATION METHOD

The present technology relates to a ranging device, a ranging method, a program, an electronic apparatus, a learning model generation device, a manufacturing method, and a depth map generation method which can range more accurately. The present invention is provided with: a first determination unit...

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Main Authors MUKASA Tomoharu, SANO Hironaga, FUJITA Takafumi, ONO Hiroaki
Format Patent
LanguageEnglish
French
Japanese
Published 01.04.2021
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Summary:The present technology relates to a ranging device, a ranging method, a program, an electronic apparatus, a learning model generation device, a manufacturing method, and a depth map generation method which can range more accurately. The present invention is provided with: a first determination unit which determines whether the difference in depth value between a first pixel in a depth map and a second pixel adjacent to the first pixel is greater than a first threshold; and a second determination unit which, when the difference in distance between the first pixel and the second pixel is determined greater than the first threshold by the first determination unit, determines whether the difference in reliability between the first pixel and the second pixel is greater than a second threshold, wherein the difference in reliability between the first pixel and the second pixel is determined greater than the second threshold by the second determination unit, it is confirmed that the first pixel is a defective pixel. The present technology can be applied to, for example, a ranging device. La présente technologie concerne un dispositif de télémétrie, un procédé de télémétrie, un programme, un appareil électronique, un dispositif de génération de modèle d'apprentissage, un procédé de fabrication et un procédé de génération de carte de profondeur qui peuvent effectuer une télémétrie plus précise. La présente invention comprend : une première unité de détermination qui détermine si la différence de valeur de profondeur entre un premier pixel dans une carte de profondeur et un second pixel adjacent au premier pixel est supérieure à un premier seuil ; et une seconde unité de détermination qui, lorsque la différence de distance entre le premier pixel et le second pixel est déterminée comme supérieure au premier seuil par la première unité de détermination, détermine si la différence de fiabilité entre le premier pixel et le second pixel est supérieure à un second seuil, la différence de fiabilité entre le premier pixel et le second pixel étant déterminée comme supérieure au second seuil par la seconde unité de détermination, il est confirmé que le premier pixel est un pixel défectueux. La présente technologie peut s'appliquer, par exemple, à un dispositif de télémétrie. 本技術は、測距をより精度良く行えるようにする測距装置、測距方法、プログラム、電子機器、学習モデル生成方法、製造方法、およびデプスマップ生成方法に関する。 デプスマップ内の第1のピクセルと、第1のピクセルに隣接する第2のピクセルのデプス値の差分が第1の閾値より大きいか否かを判定する第1の判定部と、第1の判定部により、第1のピクセルと第2のピクセルの距離の差分が第1の閾値より大きいと判定された場合、第1のピクセルの信頼度と第2のピクセルの信頼度の差分が第2の閾値よりも大きいか否かを判定する第2の判定部とを備え、第2の判定部により、第1のピクセルの信頼度と第2のピクセルの信頼度の差分が第2の閾値よりも大きいと判定された場合、第1のピクセルは、欠陥ピクセルであると確定する。本技術は、例えば、測距装置に適用できる。
Bibliography:Application Number: WO2020JP36469