CIRCUITS FOR AND METHODS OF CALIBRATING A CIRCUIT IN AN INTEGRATED CIRCUIT DEVICE

• Main Authors: LARABA, Asma, POON, Chi, UPADHYAYA, Parag
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 28.01.2021
• Subjects: CALCULATING; COMPUTING; COUNTING; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING; PHYSICS

A circuit arrangement for calibrating a circuit in an integrated circuit device is described. The circuit arrangement may comprise a main circuit (1102) configured to receive input data at a first input (1106) and generate output data at a first output (1108), wherein the output data is based upon the input data and a function of the main circuit; a replica circuit (1104) configured to receive calibration data at a second input (1114) and generate calibration output data, based upon the calibration data, at a second output (1118), wherein the replica circuit provides a replica function of the function of the main circuit; and a calibration circuit (1120) configured to receive the output data from the main circuit during a foreground calibration mode, and the calibration output data from the replica circuit during a background calibration mode; wherein the calibration circuit provides control signals to the main circuit during the background calibration mode. A method of calibrating a circuit in an integrated circuit device is also described. La présente invention concerne un agencement de circuit pour étalonner un circuit dans un dispositif de circuit intégré. L'agencement de circuit peut comprendre un circuit principal (1102) conçu pour recevoir des données d'entrée au niveau d'une première entrée (1106) et générer des données de sortie au niveau d'une première sortie (1108), les données de sortie étant basées sur les données d'entrée et une fonction du circuit principal ; un circuit de réplique (1104) conçu pour recevoir des données d'étalonnage au niveau d'une seconde entrée (1114) et générer des données de sortie d'étalonnage, sur la base des données d'étalonnage, au niveau d'une seconde sortie (1118), le circuit de réplique fournissant une fonction de réplique de la fonction du circuit principal ; et un circuit d'étalonnage (1120) conçu pour recevoir les données de sortie provenant du circuit principal pendant un mode d'étalonnage de premier plan, et les données de sortie d'étalonnage provenant du circuit de réplique pendant un mode d'étalonnage d'arrière-plan ; le circuit d'étalonnage fournissant des signaux de commande au circuit principal pendant le mode d'étalonnage d'arrière-plan. L'invention concerne également un procédé d'étalonnage d'un circuit dans un dispositif de circuit intégré.