INSPECTION DEVICE, CONTROL METHOD, AND PROGRAM

• Main Author: HIGA Kyota
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 10.12.2020
• Subjects: CALCULATING; COMPUTING; COUNTING; IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL; PHYSICS

An inspection device (100) detects an inspection object (10) from first image data (10) in which the inspection object (90) is included. The inspection device (100) performs a geometric transform on the first image data (10) so that the view of the detected inspection object (90) satisfies a prescribed standard, thereby generating second image data (20). In an inference phase, the inspection device (100) uses an identification model for detecting an abnormality in the inspection object (90), and detects the abnormality in the inspection object (90) included in the second image data (20). In a learning phase, the inspection device (100) uses the second image data (20) and learns the identification model for detecting the abnormality in the inspection object (90). L'invention concerne un dispositif d'inspection (100) qui détecte un objet d'inspection (10) à partir de premières données d'image (10) dans lesquelles l'objet d'inspection (90) est inclus. Le dispositif d'inspection (100) effectue une transformation géométrique sur les premières données d'image (10) de sorte que la vue de l'objet d'inspection détecté (90) satisfait une norme prescrite, générant ainsi des secondes données d'image (20). Dans une phase d'inférence, le dispositif d'inspection (100) utilise un modèle d'identification pour détecter une anomalie dans l'objet d'inspection (90), et détecte l'anomalie dans l'objet d'inspection (90) inclus dans les secondes données d'image (20). Dans une phase d'apprentissage, le dispositif d'inspection (100) utilise les secondes données d'image (20) et apprend le modèle d'identification pour détecter l'anomalie dans l'objet d'inspection (90). 点検装置（１００）は、被点検物（９０）が含まれる第１画像データ（１０）から、被点検物（１０）を検出する。点検装置（１００）は、検出した被点検物（９０）の見え方が所定基準を満たす見え方となるように第１画像データ（１０）を幾何変換することで、第２画像データ（２０）を生成する。推論フェーズにおいて、点検装置（１００）は、被点検物（９０）の異常を検出する識別モデルを用いて、第２画像データ（２０）に含まれる被点検物（９０）の異常を検出する。また、学習フェーズにおいて、点検装置（１００）は、第２画像データ（２０）を用いて、被点検物（９０）の異常を検出する識別モデルを学習する。