AUTOMATIC ANALYSIS DEVICE

• Main Authors: IWASE Yuichi, NONAKA Kohei, KAWAHARA Tetsuji
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 07.05.2020
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

The present invention stably maintains highly accurate dispensing performance by stabilizing the fluid temperature inside piping of a sample dispensing system. This automatic analysis device has: a sample dispensing system that dispenses a sample set at a sample dispensing position by using a sample probe 20; and a device control unit 26 that controls the sample dispensing system. The device control unit operates the sample dispensing system through a first operation sequence 40 in a standby state until the sample is conveyed to the sample dispensing position and through a second operation sequence 30 in an analysis state where the sample set at the sample dispensing position is dispensed. Time for cleaning the inside of the sample probe during a single cycle of the first operation sequence is set shorter than that for cleaning the inside of the sample probe during a single cycle of the second operation sequence. Alternatively, the first operation sequence is set so as to clean the inside of the sample probe once every multiple cycles. La présente invention permet de maintenir de manière stable des performances de distribution très précises en stabilisant la température du fluide à l'intérieur de la tuyauterie d'un système de distribution d'échantillon. Ce dispositif d'analyse automatique comprend : un système de distribution d'échantillon qui distribue un ensemble d'échantillons à une position de distribution d'échantillon à l'aide d'une sonde d'échantillon 20; et une unité de dispositif de commande 26 qui commande le système de distribution d'échantillon. L'unité de dispositif de commande fait fonctionner le système de distribution d'échantillon par l'intermédiaire d'une première séquence de fonctionnement 40 dans un état de veille jusqu'à ce que l'échantillon soit amené vers la position de distribution d'échantillon et traverse une seconde séquence de fonctionnement 30 dans un état d'analyse où l'échantillon placé à la position de distribution de l'échantillon est distribué. Le temps de nettoyage de l'intérieur de la sonde d'échantillon au cours d'un cycle simple de la première séquence de fonctionnement est plus court que celui du nettoyage de l'intérieur de la sonde d'échantillon au cours d'un cycle simple de la seconde séquence de fonctionnement. En variante, la première séquence de fonctionnement est réglée de façon à nettoyer l'intérieur de la sonde d'échantillon une fois sur plusieurs cycles. サンプル分注システムの配管内部の流体温度を安定させることにより、安定して高精度な分注性能を維持する。サンプルプローブ２０を用いてサンプル分注位置にあるサンプルを分注するサンプル分注システムと、サンプル分注システムを制御する装置制御部２６とを有する自動分析装置において、装置制御部は、サンプルがサンプル分注位置に運ばれてくるまでの待機状態においては第１動作シーケンス４０により、サンプル分注位置にあるサンプルを分注する分析状態においては第２動作シーケンス３０により、サンプル分注システムを動作させ、第１動作シーケンスの１サイクルにおいてサンプルプローブの内部洗浄を行う時間は、第２動作シーケンスの１サイクルにおいてサンプルプローブの内部洗浄を行う時間よりも短く設定されている、または第１動作シーケンスは、複数サイクルに１回の割合でサンプルプローブの内部洗浄を行うよう設定されている。