CHARACTERIZING DEPOSITIONAL FEATURES BY GEOLOGIC-BASED SEISMIC CLASSIFICATION

• Main Authors: ZHANG, Si-Hai, ABUALI, Mahdi A, XU, Yin
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 19.03.2020
• Subjects: DETECTING MASSES OR OBJECTS; GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; MEASURING; PHYSICS; TESTING

The disclosure provides methods and systems for characterizing depositional features. The methods and systems include accessing data encoding seismic waves as seismic traces reflected from cells at various locations within a particular stratum in response to a seismic source. The cells are classified into multiple non-overlapping groups according to the amplitude values or other seismic attributes of the seismic waves reflected from the various locations within the particular stratum. One or more subgroups of adjacent cells are identified. A subgroup area metric is calculated for each subgroup of cells by combining individual area metrics from adjacent cells in a given subgroup and subsequently assigning the calculated subgroup area metric to each cell of the given subgroup. One or more depositional features within the stratum are characterized based at least in part on the variation map based on the subgroup area metric of each cell. L'invention concerne des procédés et des systèmes pour caractériser des caractéristiques de dépôt. Les procédés et les systèmes comprennent l'accès à des données codant des ondes sismiques en tant que traces sismiques réfléchies à partir de cellules à divers emplacements à l'intérieur d'une strate particulière en réponse à une source sismique. Les cellules sont classées en de multiples groupes non chevauchants en fonction des valeurs d'amplitude ou d'autres attributs sismiques des ondes sismiques réfléchies par les divers emplacements à l'intérieur de la strate particulière. Un ou plusieurs sous-groupes de cellules adjacentes sont identifiés. Une métrique de zone de sous-groupe est calculée pour chaque sous-groupe de cellules en combinant des métriques de zone individuelles à partir de cellules adjacentes dans un sous-groupe donné et en attribuant ensuite la métrique de zone de sous-groupe calculée à chaque cellule du sous-groupe donné. Une ou plusieurs caractéristiques de dépôt dans la strate sont caractérisées, sur la base au moins en partie de la carte de variation, en utilisant la métrique de zone de sous-groupe de chaque cellule.