METHOD AND APPARATUS FOR OPTICALLY INSPECTING A MOLD FOR MANUFACTURING OPHTHALMIC LENSES FOR POSSIBLE MOLD DEFECTS

• Main Authors: CAMPANELLI, Giovanni, KIEABER, Daniel, WARKEN, Arno Florian, ETZOLD, Fabian
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 20.02.2020
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

A method for optically inspecting a mold (10) for manufacturing ophthalmic lenses, in particular contact lenses, for possible mold defects, comprises the steps of: generating a set of images of the mold (10) for different azimuthal illumination angles (ϕ1, ϕ9) using an illumination system (20) and an imaging system (30), the latter being aligned such that its focal plane cuts through the mold (10) at a specific axial position along a center axis of the mold (10); generating a focal plane image by averaging pixelwise over the set of images after having masked out in each image those regions that include direct specular reflections from the mold (10); repeating the previous steps for one or a plurality of different axial positions of the focal plane such as to generate a plurality of different focal plane images; identifying one or more image features in the plurality of focal plane images indicative for a possible mold defect; determining for each identified image feature in which focal plane image the identified image feature appears sharpest; generating for each identified image feature a respective image section out of the respective sharpest focal plane containing the image feature; and generating a composed dark field image of the mold (10) by composing the respective image sections for each identified image feature, thus enabling to determine as to whether the possible defects of the mold (10) still allow the mold (10) to be used. L'invention concerne un procédé d'inspection optique d'un moule (10) pour la fabrication de lentilles ophtalmiques, en particulier de lentilles de contact, en vue de déceler d'éventuel défauts de moule, comprenant les étapes consistant à : générer un ensemble d'images du moule (10) pour différents angles d'éclairage azimutaux (ϕ1, ϕ9) à l'aide d'un système d'éclairage (20) et d'un système d'imagerie (30), ce dernier étant aligné de telle sorte que son plan focal coupe à travers le moule (10) à une position axiale spécifique le long d'un axe central du moule (10) ; générer une image de plan focal en calculant une moyenne de pixels sur l'ensemble d'images après avoir masqué dans chaque image les régions qui comprennent des réflexions spéculaires directes à partir du moule (10) ; répéter les étapes précédentes pour une ou plusieurs positions axiales différentes du plan focal de manière à générer une pluralité d'images de plan focal différentes ; identifier une ou de plusieurs caractéristiques d'image dans la pluralité d'images de plan focal indiquant un éventuel défaut de moule ; déterminer, pour chaque caractéristique d'image identifiée, l'image de plan focal dans laquelle la caractéristique d'image identifiée apparaît plus nette ; générer, pour chaque caractéristique d'image identifiée, une section d'image respective à partir du plan focal le plus net respectif contenant la caractéristique d'image ; et générer une image de champ sombre composée du moule (10) en composant les sections d'image respectives pour chaque caractéristique d'image identifiée, permettant ainsi de déterminer si les défauts possibles du moule (10) permettent ou non au moule (10) d'être encore utilisé.