SYSTEMS AND METHODS FOR INTERFEROMETRIC MULTIFOCUS MICROSCOPY

• Main Authors: COSSAIRT, Oliver Strider, HERELD, Mark, HE, Kuan, KATSAGGELOS, Aggelos K, SCHERER, Norbert
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 26.12.2019
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; PHYSICS; TESTING

A system to generate image representations includes a first objective that receives a first light beam emitted from a sample and a second objective that receives a second light beam emitted from the sample, where the first light beam and the second light beam have conjugate phase. The system also includes a first diffractive element to receive the first light beam and separate it into a first plurality of diffractive light beams that are spatially distinct, and a second diffractive element to receive the second light beam and separate it into a second plurality of diffractive light beams that are spatially distinct. The system further includes a detector that receives the first and second plurality of diffractive light beams. The first plurality of diffractive light beams and the second plurality of diffractive light beams are simultaneously directed and focused onto different portions of an image plane of the detector. La présente invention concerne un système destiné à générer des représentations d'image, ledit système comprenant un premier objectif qui reçoit un premier faisceau lumineux émis par un échantillon et un second objectif qui reçoit un second faisceau lumineux émis par l'échantillon, le premier faisceau lumineux et le second faisceau lumineux ayant une phase conjuguée. Le système comprend également un premier élément diffractif destiné à recevoir le premier faisceau lumineux et à le séparer en une première pluralité de faisceaux lumineux de diffraction qui sont spatialement distincts, et un second élément diffractif destiné à recevoir le second faisceau lumineux et à le séparer en une seconde pluralité de faisceaux lumineux de diffraction qui sont spatialement distincts. Le système comprend en outre un détecteur qui reçoit les première et seconde pluralités de faisceaux lumineux de diffraction. La première pluralité de faisceaux lumineux de diffraction et la seconde pluralité de faisceaux de lumière de diffraction sont dirigés et concentrés simultanément sur différentes parties d'un plan d'image du détecteur.