TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER

• Main Authors: OKUMURA, Daisuke, KOZAWA, Hiroaki, OSHIRO, Tomoyuki, MIYAZAKI, Yuta
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 31.10.2019
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS; ELECTRICITY

During automatic adjustment of a detector voltage, a reflection voltage generator (33) under the control of an auto-tuning controller (42) applies a voltage different from a normal measurement voltage at which ions are not temporally focused to a reflector (14) to measure a standard sample. A plurality of ions with the same m/z simultaneously ejected from an ejector (11) is scattered in time direction to reach a detector (15). Because this allows a plurality of small peaks corresponding to each ion to be observed in a spectral profile, a peak value data acquisition unit (23) acquires the wave height value of each peak, and a wave height value list preparation unit (24) prepares a list of wave height values. A detector voltage determination unit (25) searches for a detector voltage such that the median of the wave height values in the list of wave height values is within a reference range. The detector voltage determined in such a manner is not affected by the number of ions generated and thus precisely reflects the performance of a detector. Selon la présente invention, lors d'un réglage automatique d'une tension de détecteur, un générateur de tension de réflexion (33) sous la commande d'un dispositif de commande de réglage automatique (42) applique une tension différente d'une tension de mesure normale à laquelle des ions ne sont pas concentrés temporellement sur un réflecteur (14) pour mesurer un échantillon standard. Une pluralité d'ions ayant le même m/z éjecté simultanément à partir d'un éjecteur (11) est diffusée dans le sens du temps pour atteindre un détecteur (15). Parce que ceci permet d'observer une pluralité de petits pics correspondant à chaque ion à observer dans un profil spectral, une unité d'acquisition de données de valeur de pic (23) acquiert la valeur de hauteur d'onde de chaque pic et une unité de préparation de liste de valeurs de hauteur d'onde (24) prépare une liste de valeurs de hauteur d'onde. Une unité de détermination de tension de détecteur (25) recherche une tension de détecteur de telle sorte que la médiane des valeurs de hauteur d'onde dans la liste de valeurs de hauteur d'onde se situe dans une plage de référence. La tension de détecteur déterminée de telle manière n'est pas affectée par le nombre d'ions générés et reflète donc de manière précise les performances d'un détecteur. 検出器電圧の自動調整時に、オートチューニング制御部（４２）の制御の下で反射電圧発生部（３３）は、イオンが時間収束しないような通常測定時とは異なる電圧をリフレクタ（１４）に印加して標準試料に対する測定を実行する。射出部（１１）から同時に射出された同一m/zの複数のイオンは時間方向に分散して検出器（１５）に到達する。そのため、プロファイルスペクトルにはイオン単体に対応する複数の小さいピークが観測されるから、ピーク値データ取得部（２３）は各ピークの波高値を求め、波高値リスト作成部（２４）は波高値のリストを作成する。検出器電圧決定部（２５）は波高値リストにおいて波高値の中央値が基準範囲内になるように検出器電圧を調べる。そうして決定された検出器電圧はイオンの生成量の影響を受けず、検出器の性能を正確に反映したものとなる。