AMORPHOUS PHASE QUANTITATIVE ANALYSIS APPARATUS, AMORPHOUS PHASE QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD, AND AMORPHOUS PHASE QUANTITATIVE ANALYSIS PROGRAM

• Main Authors: MUROYAMA, Norihiro, TORAYA, Hideo
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 10.10.2019
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

Provided is a quantitative analysis apparatus whereby a sample including a single amorphous phase can be quantitatively analyzed more conveniently. An amorphous phase quantitative analysis apparatus provided with a powder diffraction pattern acquisition means, a qualitative analysis result acquisition means, a fitting function acquisition means for acquiring a fitting function for one or a plurality of crystal phases, a total pattern fitting means executed for the powder diffraction pattern of the sample using the acquired fitting function, and a weight ratio calculation means for calculating a weight ratio of the single amorphous phase and the one or plurality of crystal phases, wherein each fitting function for the one or plurality of crystal phases is any of a first fitting function which uses an integrated intensity obtained by total pattern analysis, a second fitting function which uses an integrated intensity obtained by observation or calculation, or a third fitting function which uses a profile intensity obtained by observation or calculation, and the third fitting function is applied to the single amorphous phase. L'invention concerne un appareil d'analyse quantitative moyennant lequel un échantillon comprenant une seule phase amorphe peut être analysé quantitativement de manière plus commode. Un appareil d'analyse quantitative de phase amorphe comprend un moyen d'acquisition de spectre de diffraction des poudres, un moyen d'acquisition de résultat d'analyse qualitative, un moyen d'acquisition de fonction d'ajustement pour acquérir une fonction d'ajustement pour une ou plusieurs phases cristallines, un moyen d'ajustement de spectre total exécuté pour le spectre de diffraction des poudres de l'échantillon à l'aide de la fonction d'ajustement acquise, et un moyen de calcul de rapport massique pour calculer un rapport massique de la phase amorphe unique et de la phase cristalline ou de la pluralité de phases cristallines, chaque fonction d'ajustement pour la phase cristalline ou la pluralité de phases cristallines étant l'une quelconque d'une première fonction d'ajustement qui utilise une intensité intégrée obtenue par analyse de spectre total, d'une deuxième fonction d'ajustement qui utilise une intensité intégrée obtenue par observation ou calcul, ou une troisième fonction d'ajustement qui utilise une intensité de profil obtenue par observation ou calcul, et la troisième fonction d'ajustement est appliquée à la phase amorphe unique. １の非晶質相を含む試料の定量分析をより簡便に行うことが出来る定量分析装置の提供。粉末回折パターン取得手段と、定性分析結果取得手段と、１又は複数の結晶相に対するフィッティング関数を取得するフィッティング関数取得手段と、取得されるフィッティング関数を用いて、試料の粉末回折パターンに対して実行する全パターンフィッティング手段と、１の非晶質相及び１又は複数の結晶相の重量比を計算する重量比計算手段と、を備える非晶質相の定量分析装置であって、１又は複数の結晶相に対するフィッティング関数はそれぞれ、全パターン分解によって得られる積分強度を用いる第１フィッティング関数、観測又は計算による積分強度を用いる第２フィッティング関数、又は観測又は計算によるプロファイル強度を用いる第３フィッティング関数のいずれかであり、１の非晶質相には第３フィッティング関数を適用する。