OPTICAL WAVEGUIDE INSPECTION METHOD AND OPTICAL WAVEGUIDE MANUFACTURING METHOD USING SAME

• Main Authors: TSUKAHARA Daisuke, OZAWA Hiroki, ARIMA Akira
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 03.10.2019
• Subjects: MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS; OPTICS; PHYSICS; TESTING; TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES; TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR

Provided are: an optical waveguide inspection method in which the time required to position an image capturing element when capturing an image of emitted light can be reduced; and an optical waveguide manufacturing method using same. In the optical waveguide inspection method according to the present invention, the position of a light emission unit (a connection surface 7c) of an optical waveguide is detected by a position detector such as a laser displacement meter (30), and on the basis of the position information of the light emission unit, a camera 20 is positioned at a place at which an image capturing element of the camera 20 is focused on the light emission unit. Then, light L that has traveled from a light incident unit of the optical waveguide to a core 7 is emitted from the light emission unit, and the emitted light L is captured by the image capturing element of the camera 20. Subsequently, the state of the core 7 (for example, light propagation properties, dimensions, inclination angle of a light reflection surface, or the like) is inspected by analyzing the captured image of the emitted light L. Also, the inspection is deemed to have passed if the state of the inspected core 7 meets predetermined criteria. L'invention concerne : un procédé d'inspection de guide d'onde optique grâce auquel le temps nécessaire pour positionner un élément de capture d'image lors de la capture d'une image de lumière émise peut être réduit ; et un procédé de fabrication de guide d'onde optique faisant appel audit procédé. Dans le procédé d'inspection de guide d'ondes optique selon la présente invention, la position d'une unité d'émission de lumière (une surface de connexion (7c)) d'un guide d'ondes optique est détectée par un détecteur de position tel qu'un dispositif de mesure de déplacement laser (30), et sur la base des informations de position de l'unité d'émission de lumière, une caméra (20) est positionnée à un endroit où un élément de capture d'image de la caméra (20) est focalisé sur l'unité d'émission de lumière. Ensuite, la lumière L qui s'est déplacée depuis une unité d'incidence de lumière du guide d'onde optique vers un cœur (7) est émise à partir de l'unité d'émission de lumière, et la lumière émise (L) est capturée par l'élément de capture d'image de la caméra (20). Ensuite, l'état du cœur (7) (par exemple, des propriétés de propagation de lumière, des dimensions, un angle d'inclinaison d'une surface de réflexion de lumière, ou similaire) est inspecté par analyse de l'image capturée de la lumière émise (L). De plus, l'inspection est considérée comme réussie si l'état du cœur inspecté (7) satisfait des critères prédéterminés. 出射光を撮像する際の撮像素子の位置決めに要する時間を短縮することができる光導波路の検査方法およびそれを用いた光導波路の製法を提供する。本発明の光導波路の検査方法は、光導波路の光出射部（接続面７ｃ）の位置をレーザ変位計３０等の位置検知器により検知し、その光出射部の位置情報に基づいて、カメラ２０の撮像素子の焦点が上記光出射部に合う位置に、そのカメラ２０を位置決めする。ついで、光導波路の光入射部からコア７に入射させた光Ｌを、上記光出射部から出射させ、その出射光Ｌを、上記カメラ２０の撮像素子により撮像する。つぎに、その撮像した出射光Ｌの画像を解析することにより、コア７の状態（例えば、光伝播性能，寸法，光反射面の傾斜角度等）を検査する。そして、その検査したコア７の状態が、予め設定した基準に合うものを、上記検査の合格品とする。