APPARATUS AND METHODS FOR INSPECTING DAMAGE INTENSITY

• Main Authors: CECALA, Christine, BITTNER, Evan James, HART, Shandon Dee, BROCKWAY, David John, DECKER, Heather Bossard, NULL, Eric Louis
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 01.08.2019
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

An inspection apparatus including a light source, a sample holding stage, an image capture device, positioned to receive light from the light source after the light has interacted with a sample on the sample holding stage, and a damage metric. The damage metric includes two or more damage levels, and is a function of light in a test image. Further, the damage metric may correlate to visual observation so that an inspection apparatus may mimic how users of devices will perceive damage to the devices. The damage metric may be adjusted to account for different damage types, for example, abrasion and scratch damage. L'invention concerne un appareil d'inspection comprenant une source de lumière, une platine porte-échantillon, un dispositif de capture d'image, positionné pour recevoir de la lumière provenant de la source de lumière après que la lumière a interagi avec un échantillon sur la platine porte-échantillon, et une métrique d'endommagement. La métrique d'endommagement comprend deux niveaux d'endommagement ou plus, et est une fonction de la lumière dans une image d'essai. En outre, la métrique d'endommagement peut être corrélée à une observation visuelle de telle sorte qu'un appareil d'inspection peut imiter la manière dont des utilisateurs de dispositifs percevront un endommagement des dispositifs. La métrique d'endommagement peut être ajustée pour prendre en compte différents types d'endommagement, par exemple, l'endommagement par abrasion et rayure.