PRODUCT INSPECTION AND CHARACTERIZATION DEVICE
The invention relates to a product inspection and characterization device, including: conveyance means; a two-dimensional inspection region; a radiation source generating a spot light beam for partially illuminating the surface of the product; optical means for directing the light beam, provided wit...
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Format | Patent |
Language | English French Spanish |
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09.05.2019
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Summary: | The invention relates to a product inspection and characterization device, including: conveyance means; a two-dimensional inspection region; a radiation source generating a spot light beam for partially illuminating the surface of the product; optical means for directing the light beam, provided with at least one mirror to aim the spot light beam in the inspection region; optical means for directing the reflected and/or scattered light to detection means; detection means for analyzing the light scattered and/or reflected by the product; and a processing unit for characterizing the product. The radiation source emitting the light beam is therefore pointed at the product by optical means directing the light beam to the two-dimensional inspection region. The present invention also relates to the product inspection and characterization method.
La invención trata de un dispositivo de inspección y caracterización de productos que incluye medios de transporte, una zona de inspección bidimensional, una fuente de radiación que genera un haz de luz puntual para iluminar parcialmente la superficie del producto, medios ópticos para dirigir el haz de luz provistos de, al menos, un espejo para direccionar el haz de luz puntual en la zona de inspección, medios ópticos para dirigir la luz reflejada y/o dispersada hacia los medios de detección, medios de detección para analizar la luz dispersada y/o reflejada por el producto y una unidad de procesamiento para la caracterización del producto. Así, la fuente de radiación que emite el haz de luz se orienta al producto mediante medios ópticos que dirigen el haz de luz en la zona de inspección bidimensional. También es objeto de la presente invención el método para la inspección y caracterización del producto.
L'invention concerne un dispositif d'inspection et de caractérisation de produits qui comprend des moyens de transport, une zone d'inspection bidimensionnelle, une source de rayonnements qui génère un faisceau de lumière ponctuel pour éclairer partiellement la surface du produit, des moyens optiques pour diriger le faisceau de lumière pourvus d'au moins un miroir pour diriger le faisceau de lumière ponctuel dans la zone d'inspection, des moyens optiques pour diriger la lumière réfléchie et/ou dispersée vers les moyens de détection, des moyens de détection pour analyser la lumière dispersée et/ou réfléchie par le produit et une unité de traitement pour la caractérisation du produit. Ainsi, la source de rayonnement qui émet le faisceau de lumière est orientée vers le produit à l'aide de moyens optiques qui dirigent le faisceau de lumière dans la zone d'inspection bidimensionnelle. Un objet de la présente invention concerne aussi un procédé pour l'inspection et la caractérisation du produit. |
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Bibliography: | Application Number: WO2017ES70730 |