DETECTION OF FIELDS

• Main Authors: KNUDSEN, Sverre, JOHANSEN, Ib-Rune, VOGL, Andreas, KOLBERG, Sigbjørn, GJESSING, Jo, LACOLLE, Matthieu, SKOKIC, Zeljiko, HJELSTUEN, Magnus Blihovde, STAMNES, Øyvind Nistad
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 18.04.2019
• Subjects: ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS; MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS; OPTICS; PHYSICS; TARIFF METERING APPARATUS; TESTING

A field detector (2) comprises a field-responsive element (10) which undergoes a dimensional change when exposed to a predetermined field; and an interferometric read-out arrangement arranged to detect the dimensional change of the field-responsive element. A light source (4) is arranged to provide a measurement beam reflected from the field-responsive element (10) and a reference beam not reflected from the field-responsive element (10), an optical detector (6) being disposed so as to detect at least part of an interference pattern produced by the measurement beam and the reference beam. The field-responsive element (10) has a shape comprising a curved surface and is constrained at least one edge (12) thereof such that the dimensional change causes the curved surface to be displaced in a direction which changes an optical path length of the measurement beam relative to the reference beam, thereby changing the interference pattern detected by said optical detector. L'invention concerne un détecteur de champ (2) comprenant un élément sensible au champ (10) qui subit un changement dimensionnel lorsqu'il est exposé à un champ prédéterminé ; et un agencement de lecture interférométrique conçu pour détecter le changement dimensionnel de l'élément sensible au champ. Une source de lumière (4) est agencée pour fournir un faisceau de mesure réfléchi par l'élément sensible au champ (10) et un faisceau de référence non réfléchi par l'élément sensible au champ (10), un détecteur optique (6) étant disposé de manière à détecter au moins une partie d'un motif d'interférence produit par le faisceau de mesure et le faisceau de référence. L'élément sensible au champ (10) présente une forme comprenant une surface incurvée et est contraint à au moins un bord (12) de ce dernier de telle sorte que le changement dimensionnel provoque le déplacement de la surface incurvée dans une direction qui modifie une longueur de trajet optique du faisceau de mesure par rapport au faisceau de référence, ce qui permet de modifier le motif d'interférence détecté par ledit détecteur optique.