COMPUTATION PROCESSING DEVICE, COMPUTATION METHOD FOR COMPUTATION PROCESSING DEVICE, AND PROGRAM
The present invention sets unit space information for determining the quality of a molded article. This computation processing device is provided with: a first period setting unit that specifies a monitoring start time and sets a predetermined period from the monitoring start time as a first monitor...
Saved in:
Main Authors | , , , , |
---|---|
Format | Patent |
Language | English French Japanese |
Published |
04.04.2019
|
Subjects | |
Online Access | Get full text |
Cover
Loading…
Summary: | The present invention sets unit space information for determining the quality of a molded article. This computation processing device is provided with: a first period setting unit that specifies a monitoring start time and sets a predetermined period from the monitoring start time as a first monitoring period; a second period setting unit that divides the first monitoring period into a plurality of second monitoring periods on the basis of a specified number of segments; a multiply-accumulate computation unit that performs multiply-accumulate computation using a signal detected at a time of measurement during the production of a suitable article and coefficients set in accordance with elapsed time in each of the second monitoring periods; and a unit space information setting unit that uses the value determined by the multiply-accumulate computation to set unit space information for use in monitoring processing of a molded article in the second monitoring periods.
La présente invention définit des informations d'espaces unitaires pour déterminer la qualité d'un article moulé. Ce dispositif de traitement de calcul comprend : une unité de définition de première période qui spécifie un instant de démarrage de la surveillance et définit une période prédéfinie à partir de l'instant de démarrage de la surveillance en tant que première période de surveillance ; une unité de définition de secondes périodes qui divise la première période de surveillance en une pluralité de secondes périodes de surveillance sur la base d'un nombre spécifié de segments ; une unité de calcul de multiplication-accumulation qui effectue un calcul de multiplication-accumulation à l'aide d'un signal détecté à l'instant de la mesure pendant la production d'un article approprié et des coefficients définis en fonction du temps écoulé dans chacune des secondes périodes de surveillance ; et une unité de définition d'informations d'espaces unitaires qui utilise la valeur déterminée par le calcul de multiplication-accumulation pour définir des informations d'espaces unitaires destinées à être utilisées pour surveiller le traitement d'un article moulé pendant les secondes périodes de surveillance.
成形品の良否判定のための単位空間情報の設定を行う。 本技術における演算処理装置は、監視開始時点を特定し、前記監視開始時点から所定期間を第1監視期間として設定する第1期間設定部と、指定された分割数に基づいて、前記第1監視期間を複数の第2監視期間に分割する第2期間設定部と、計測時点における良品製造時の前記検出信号と、前記第2監視期間の各々において経過時間に応じて設定された係数とを用いた積和演算を行う積和演算部と、前記第2監視期間における成形品の監視処理に用いる単位空間情報を、前記積和演算で求めた値を用いて設定する単位空間情報設定部と、を備える。 |
---|---|
Bibliography: | Application Number: WO2018JP23301 |