X-RAY ANALYSIS ASSISTANCE DEVICE AND X-RAY ANALYSIS DEVICE

An X-ray analysis assistance device according to the present invention is provided with an input and operation device 24 for arbitrarily inputting and setting the value of one from among the distance L between a sample S and a two-dimensional detector 2 and the maximum detection range Xmax for X-ray...

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Main Authors TANIGUCHI Yayoi, MORIKAWA Keiichi
Format Patent
LanguageEnglish
French
Japanese
Published 04.10.2018
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Summary:An X-ray analysis assistance device according to the present invention is provided with an input and operation device 24 for arbitrarily inputting and setting the value of one from among the distance L between a sample S and a two-dimensional detector 2 and the maximum detection range Xmax for X-rays scattered or diffracted by the sample S, and a central processing unit 20 for automatically setting the other setting item on the basis of the value of the one setting item set by the input and operation device 24. Further, the maximum measurement frame Hmax for the X-rays is displayed on a display screen 22 of a display device 21 on the basis of the distance L and maximum detection range Xmax. Additionally, an X-ray detection area A indicating the range within which it is possible for the detection surface of the two-dimensional detector 2 to detect X-rays is displayed on the display screen 22 of the display device 21. Un dispositif d'aide à l'analyse par rayons X selon la présente invention est pourvu d'un dispositif d'entrée et de fonctionnement 24 pour entrer et définir arbitrairement la valeur de l'un parmi la distance L entre un échantillon S et un détecteur bidimensionnel 2 et la plage de détection maximale Xmax pour les rayons X diffusés ou diffractés par l'échantillon S, et une unité de traitement centrale 20 pour définir automatiquement l'autre élément de définition sur la base de la valeur de l'élément de définition défini par le dispositif d'entrée et de fonctionnement 24. En outre, la trame de mesure maximale Hmax pour les rayons X est affichée sur un écran d'affichage 22 d'un dispositif d'affichage 21 sur la base de la distance L et de la plage de détection maximale Xmax. En outre, une zone de détection de rayons X A indiquant la plage dans laquelle il est possible pour la surface de détection du détecteur bidimensionnel 2 de détecter des rayons X est affichée sur l'écran d'affichage 22 du dispositif d'affichage 21. 本発明のX線分析補助装置は、試料Sと2次元検出器2との間の距離L又は試料Sで散乱又は回折するX線の検出最大範囲Xmaxの一方を任意に入力して設定するための入力・操作装置24と、入力・操作装置24により設定された一方の設定項目の値に基づいて、他方の設定項目を自動的に設定する中央処理装置20とを備える。そして、上記距離Lと検出最大範囲Xmaxに基づいて、X線の最大測定枠Hmaxを表示装置21の表示画面22に表示する。さらに、2次元検出器2の検出面がX線を検出可能な範囲をあらわすX線検出領域Aも表示装置21の表示画面22に表示する。
Bibliography:Application Number: WO2018JP02205