X-RAY ANALYSIS ASSISTANCE DEVICE AND X-RAY ANALYSIS DEVICE

• Main Authors: TANIGUCHI Yayoi, MORIKAWA Keiichi
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 04.10.2018
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

An X-ray analysis assistance device according to the present invention is provided with an input and operation device 24 for arbitrarily inputting and setting the value of one from among the distance L between a sample S and a two-dimensional detector 2 and the maximum detection range Xmax for X-rays scattered or diffracted by the sample S, and a central processing unit 20 for automatically setting the other setting item on the basis of the value of the one setting item set by the input and operation device 24. Further, the maximum measurement frame Hmax for the X-rays is displayed on a display screen 22 of a display device 21 on the basis of the distance L and maximum detection range Xmax. Additionally, an X-ray detection area A indicating the range within which it is possible for the detection surface of the two-dimensional detector 2 to detect X-rays is displayed on the display screen 22 of the display device 21. Un dispositif d'aide à l'analyse par rayons X selon la présente invention est pourvu d'un dispositif d'entrée et de fonctionnement 24 pour entrer et définir arbitrairement la valeur de l'un parmi la distance L entre un échantillon S et un détecteur bidimensionnel 2 et la plage de détection maximale Xmax pour les rayons X diffusés ou diffractés par l'échantillon S, et une unité de traitement centrale 20 pour définir automatiquement l'autre élément de définition sur la base de la valeur de l'élément de définition défini par le dispositif d'entrée et de fonctionnement 24. En outre, la trame de mesure maximale Hmax pour les rayons X est affichée sur un écran d'affichage 22 d'un dispositif d'affichage 21 sur la base de la distance L et de la plage de détection maximale Xmax. En outre, une zone de détection de rayons X A indiquant la plage dans laquelle il est possible pour la surface de détection du détecteur bidimensionnel 2 de détecter des rayons X est affichée sur l'écran d'affichage 22 du dispositif d'affichage 21. 本発明のＸ線分析補助装置は、試料Ｓと２次元検出器２との間の距離Ｌ又は試料Ｓで散乱又は回折するＸ線の検出最大範囲Ｘｍａｘの一方を任意に入力して設定するための入力・操作装置２４と、入力・操作装置２４により設定された一方の設定項目の値に基づいて、他方の設定項目を自動的に設定する中央処理装置２０とを備える。そして、上記距離Ｌと検出最大範囲Ｘｍａｘに基づいて、Ｘ線の最大測定枠Ｈｍａｘを表示装置２１の表示画面２２に表示する。さらに、２次元検出器２の検出面がＸ線を検出可能な範囲をあらわすＸ線検出領域Ａも表示装置２１の表示画面２２に表示する。