ACCURACY MANAGEMENT METHOD, ACCURACY MANAGEMENT SYSTEM, MANAGEMENT DEVICE, ANALYSIS DEVICE, AND METHOD FOR DETERMINING ABNORMALITY IN ACCURACY MANAGEMENT

• Main Authors: FUJIMOTO Keiji, HASUI Yasushi, MATSUOKA Kazuhiko
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 09.08.2018
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

Provided are an accuracy management method, an accuracy management system, a management device, an analysis device, and a method for determining an abnormality in accuracy management, whereby the quality of accuracy management can be increased by adequately utilizing measurement results for both an accuracy management material and a sample. An accuracy management method used by a management device 30 connected via a network 13 to analysis devices 20 installed in each of a plurality of facilities 12, wherein first accuracy management information obtained by measurement of an artificially generated accuracy management material by the analysis device 20 of each facility 12 and second accuracy management information obtained by measurement of a plurality of samples are acquired via the network 13 from the analysis device 20 of each facility 12, and information relating to accuracy management of the analysis device 20 of at least one facility 12 is outputted on the basis of the acquired first accuracy management information and the second accuracy management information. L'invention concerne un procédé de gestion de précision, un système de gestion de précision, un dispositif de gestion, un dispositif d'analyse, et un procédé de détermination d'une anomalie dans la gestion de précision, la qualité de gestion de précision pouvant être accrue en utilisant adéquatement des résultats de mesure aussi bien pour un matériau de gestion de précision que pour un échantillon. Elle concerne un procédé de gestion de précision utilisé par un dispositif de gestion (30) connecté par un réseau (13) à des dispositifs d'analyse (20) installés dans chaque usine d'une pluralité d'usines (12), de premières informations de gestion de précision obtenues par mesure d'un matériau de gestion de précision généré artificiellement par le dispositif d'analyse (20) de chaque usine (12) et de deuxièmes informations de gestion de précision obtenues par mesure d'une pluralité d'échantillons étant acquises par le biais du réseau (13) depuis le dispositif d'analyse (20) de chaque usine (12), et des informations portant sur la gestion de précision du dispositif d'analyse (20) d'au moins une usine (12) étant transmises sur la base des premières informations acquises de gestion de précision et des deuxièmes informations acquises de gestion de précision. 精度管理物質と検体の両方の測定結果を十分に活用して精度管理の質を高めることができる精度管理方法、精度管理システム、管理装置、分析装置および精度管理異常判定方法を提供する。ネットワーク１３を介して複数の施設１２のそれぞれに設置された分析装置２０と接続された管理装置３０で用いられる精度管理方法において、各施設１２の分析装置２０が人工的に生成された精度管理物質を測定して得た第１精度管理情報と、複数の検体を測定して得た第２精度管理情報とを、ネットワーク１３を介して、各施設１２の分析装置２０からそれぞれ取得し、取得した第１精度管理情報および第２精度管理情報に基づいて、少なくとも一の施設１２の分析装置２０の精度管理に関する情報を出力する。