METHOD AND SYSTEM FOR VERIFYING AN ELECTRICAL OR ELECTRONIC COMPONENT
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Verifikation von zumindest einer elektrischen oder elektronischen Komponente oder einer Gruppe von elektrischen oder elektronischen Komponenten eines Messgeräts (1) oder zur Verifikation einer physikalischen Eigenschaft des Messgeräts (1), wobei die elektrisc...
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Format | Patent |
Language | English French German |
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15.03.2018
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Summary: | Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Verifikation von zumindest einer elektrischen oder elektronischen Komponente oder einer Gruppe von elektrischen oder elektronischen Komponenten eines Messgeräts (1) oder zur Verifikation einer physikalischen Eigenschaft des Messgeräts (1), wobei die elektrische oder elektronische Komponente oder die Gruppe von elektrischen oder elektronischen Komponenten unter Verwendung von zumindest einem internen Zeitgeber (2), der mit einer Taktfrequenz zeitbasierte elektrische Signale generiert und/oder Messsignale ausgibt, die eine physikalische oder chemische Prozessgröße repräsentieren, mit folgenden Verfahrensschritten: - Ermitteln der Anzahl der diskreten Zeitsignale, die innerhalb eines Zeitintervalls durch den zumindest einen internen Zeitgeber (2) bereitgestellt werden, - Ermitteln der absoluten Zeitdauer des Zeitintervalls durch eine Synchronisierung des Zeitintervalls mit einem Zeitnormal (4) und Vergleichen der Anzahl der von dem internen Zeitgeber (2) in dem Zeitintervall bereitgestellten diskreten Zeitsignale mit der erwarteten Anzahl diskreter Zeitsignale während der absoluten Zeitdauer des Zeitintervalls, - Generieren einer das Ergebnis des Vergleichs wiedergebenden Meldung.
The invention relates to a method for verifying at least one electrical or electronic component or a group of electrical or electronic components of a measuring device (1) or for verifying a physical property of the measuring device (1), wherein the electrical or electronic component or the group of electrical or electronic components using at least one internal timer (2) which generates time-based electrical signals at a clock frequency and/or outputs measurement signals representing a physical or chemical process variable, having the following method steps of: - determining the number of discrete time signals provided by the at least one internal timer (2) within an interval of time, - determining the absolute duration of the interval of time by synchronizing the interval of time with a time standard (4) and comparing the number of discrete time signals provided by the internal timer (2) in the interval of time with the expected number of discrete time signals during the absolute duration of the interval of time, - generating a message describing the result of the comparison.
L'invention concerne un procédé de vérification d'au moins un composant électrique ou électronique ou d'un groupe de composants électriques ou électroniques d'un appareil de mesure (1) ou de vérification d'une propriété physique de l'appareil de mesure (1). À l'aide d'au moins un temporisateur interne (2), le composant électrique ou électronique ou le groupe de composants électriques ou électroniques génère des signaux électriques temporels à une fréquence d'horloge et/ou délivre des signaux de mesure représentant une grandeur de processus physique ou chimique. Le procédé comprend les étapes suivantes consistant : - déterminer un certain nombre de signaux temporels discrets qui sont délivrés pendant un intervalle de temps par au moins un temporisateur interne (2), - déterminer la durée absolue de l'intervalle de temps par synchronisation de l'intervalle de temps avec un étalon temporel (4) et comparer le nombre de signaux temporels discrets délivrés par le temporisateur interne (2) dans l'intervalle de temps avec le nombre attendu de signaux temporels discrets pendant la durée absolue de l'intervalle de temps, - générer un message reproduisant le résultat de la comparaison. |
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Bibliography: | Application Number: WO2017EP71224 |