TUNABLE SPECTRAL SLICER AND METHODS OF USE

• Main Authors: SINHA, Supriyo, WU, Cheng-Hsu
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 30.11.2017
• Subjects: COLORIMETRY; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; MEASURING; OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS; OPTICS; PHYSICS; RADIATION PYROMETRY; TESTING

Systems (100) and methods for filtering an optical beam (200) are described. In one implementation, a system (100) for filtering an input optical beam (200) includes a first beamsplitter (120A, 122A, 124A), a first spectral slicing module (110A), a second spectral slicing module (110B, 110C, 110D), and a second beamsplitter (120B, 122B, 124B). The first beamsplitter (120A, 122A, 124A) is configured to split the input optical beam (200) into a first optical beam and a second optical beam. The first spectral slicing module (110A) has a first passband and is configured to filter the first optical beam. The second spectral slicing module (110B, 110C, 110D) has a second passband and is configured to filter the second optical beam. The second beamsplitter (120B, 122B, 124B) is configured to combine the first optical beam and the second optical beam into an output optical beam (200'). The first and second spectral slicing modules (110A, 110B, 110C, 110D) may each comprise a longpass filter (112) and a shortpass filter (114) aligned along its optical axis, and the longpass filter (112) and/or the shortpass filter (114) are rotatable relative to the optical axis. Advantageously, the optical system (100) allows for tunable spectral filtering of the input optical beam (200) suitable for 2-D imaging systems. La présente invention concerne des systèmes (100) et des procédés de filtrage d'un faisceau optique (200). Dans un mode de réalisation, un système (100) pour filtrer un faisceau optique d'entrée (200) comprend un premier séparateur de faisceau (120A, 122A, 124A), un premier module de découpage spectral (110A), un deuxième module de découpage spectral (110B, 110C, 110D), et un deuxième séparateur de faisceau (120B, 122B, 124B). Le premier séparateur de faisceau (120A, 122A, 124A) est configuré pour diviser le faisceau optique d'entrée (200) en premier faisceau optique et deuxième faisceau optique. Le premier module de découpage spectral (110A) a une première bande passante et est configuré pour filtrer le premier faisceau optique. Le deuxième module de découpage spectral (110B, 110C, 110D) a une deuxième bande passante et est configuré pour filtrer le deuxième faisceau optique. Le deuxième séparateur de faisceau (120B, 122B, 124B) est configuré pour combiner le premier faisceau optique et le deuxième faisceau optique dans un faisceau optique de sortie (200'). Les premier et deuxième modules de découpage spectral (110A, 110B, 110C, 110D) peuvent chacun comprendre un filtre passe-long (112) et un filtre passe-bas (114) aligné le long de son axe optique, et le filtre passe-haut (112) et/ou le filtre passe-bas (114) sont rotatifs par rapport à l'axe optique. Avantageusement, le système optique (100) permet un filtrage spectral accordable du faisceau optique d'entrée (200) adapté pour des systèmes d'imagerie 2D.