TRANSISTOR GATE-CHANNEL ARRANGEMENTS

Disclosed herein are transistor gate-channel arrangements, and related methods and devices. For example, in some embodiments, a transistor gate-channel arrangement may include a channel material and a transistor gate stack. The transistor gate stack may include a gate electrode material, a high-k di...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors RADOSAVLJEVIC, Marko, DEWEY, Gilbert W, MILLARD, Kent E, FRENCH, Marc C, RIOS, Rafael, LE, Van H, SHIVARAMAN, Shriram
Format Patent
LanguageEnglish
French
Published 05.10.2017
Subjects
Online AccessGet full text

Cover

Loading…
More Information
Summary:Disclosed herein are transistor gate-channel arrangements, and related methods and devices. For example, in some embodiments, a transistor gate-channel arrangement may include a channel material and a transistor gate stack. The transistor gate stack may include a gate electrode material, a high-k dielectric disposed between the gate electrode material and the channel material, and indium gallium zinc oxide (IGZO) disposed between the high-k dielectric material and the channel material. L'invention concerne des agencements grille-canal de transistor, et des procédés et des dispositifs associés. Par exemple, dans certains modes de réalisation, un agencement grille-canal de transistor peut comprendre un matériau de canal et un empilement de grille de transistor. L'empilement de grille de transistor peut comprendre un matériau d'électrode de grille, un diélectrique à constante diélectrique élevée disposé entre le matériau d'électrode de grille et le matériau de canal, et de l'oxyde d'indium-gallium-zinc (IGZO) disposé entre le matériau diélectrique à constante diélectrique élevée et le matériau de canal.
Bibliography:Application Number: WO2016US24828