PARTICLE ANALYSIS DEVICE AND PARTICLE ANALYSIS METHOD

• Main Authors: TAKAKURA Tatsuki, ISHIGE Yu
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 08.09.2017
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

A particle analysis device of the present invention is equipped with a measuring unit, and a measuring container that is provided with: a substrate having a plurality of fine pores; a first flow channel, which is in contact with, on the front surface of the substrate, the fine pores, and which separates some of the fine pores from each other; and a second flow channel in contact with, on the rear surface of the substrate, the fine pores. The measuring unit measures a flowing current or electric resistance between each of a plurality of detection electrodes that are provided on the front surface of the substrate or inside of the first flowing channel, and at least one facing electrode that is provided on the rear surface of the substrate or inside of the second flowing channel. Un dispositif d'analyse de particules selon la présente invention comprend une unité de mesure, et un récipient de mesure qui comporte : un substrat ayant une pluralité de pores fins ; un premier canal d'écoulement qui est en contact, sur la surface avant du substrat, avec les pores fins, et qui sépare certains des pores fins l'un de l'autre ; et un second canal d'écoulement en contact, sur la surface arrière du substrat, avec les pores fins. L'unité de mesure mesure un courant en circulation ou une résistance électrique entre chaque électrode d'une pluralité d'électrodes de détection qui sont disposées sur la surface avant du substrat ou à l'intérieur du premier canal d'écoulement, et au moins une électrode opposée qui est disposée sur la surface arrière du substrat ou à l'intérieur du second canal d'écoulement. 　粒子分析装置は、複数の細孔を有する基板と、前記基板の表面で前記複数の細孔に接し、かつ一部の細孔間を区切るように形成されている第１流路と、前記基板の裏面で前記複数の細孔に接する第２流路とを備えた測定容器と測定部を備え、前記測定部は、前記基板の表面又は前記第１流路の内部に設けられた複数の検出用電極のそれぞれと、前記基板の裏面又は前記第２流路の内部に設けられた少なくとも１つの対向電極との間に流れる電流又は電気抵抗を測定する。