OPHTHALMOLOGICAL DEVICE AND OPHTHALMOLOGICAL INSPECTION SYSTEM

• Main Authors: HAYASHI Takefumi, FUJII Kouta
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 10.08.2017
• Subjects: DIAGNOSIS; HUMAN NECESSITIES; HYGIENE; IDENTIFICATION; MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; SURGERY

The ophthalmological device according to the embodiments includes an object lens, a subjective inspection optical system, and an interference optical system. The subjective inspection optical system includes an optical element that can correct for aberrations in an inspected eye. The subjective inspection optical system projects a visual target at the inspected eye via the object lens and the optical element. The interference optical system partitions light from a light source into reference light and measurement light, radiates the measurement light at the inspected eye via the object lens and the optical element, generates interference light from the reference light and returned measurement light, and detects the generated interference light. L'invention concerne, selon certains modes de réalisation, un dispositif ophtalmologique comprenant un objectif, un système optique d'examen subjectif et un système optique d'interférence. Le système optique d'examen subjectif comprend un élément optique qui peut corriger les aberrations dans un œil examiné. Le système optique d'examen subjectif projette une cible visuelle au niveau de l'œil examiné par l'intermédiaire de l'objectif et de l'élément optique. Le système optique d'interférence sépare la lumière d'une source de lumière en une lumière de référence et en une lumière de mesure, émet la lumière de mesure au niveau de l'œil examiné par l'intermédiaire de l'objectif et de l'élément optique, génère une lumière d'interférence à partir de la lumière de référence et d'une lumière de mesure renvoyée, et détecte la lumière d'interférence générée. 実施形態に係る眼科装置は、対物レンズと、自覚検査光学系と、干渉光学系とを含む。自覚検査光学系は、被検眼の収差を補正可能な光学素子を含み、対物レンズ及び光学素子を介して被検眼に視標を投影する。干渉光学系は、光源からの光を参照光と測定光とに分割し、対物レンズ及び光学素子を介して被検眼に測定光を照射し、その戻り光と参照光との干渉光を生成し、生成された干渉光を検出する。